OURSTEXX射线荧光光谱仪 160

元素技术晶体/高灵敏度、高精度

能量色散X射线荧光光谱仪用来自X射线管的初级X射线照射样品，并用半导体检测器测量产生的X射线荧光，无论样品的形状如何，都可以无损地对元素进行定性和定量分析。
半导体探测器使用不需要液氮冷却的电子冷却硅漂移探测器（SDD），并且可以与数字计数电路（DSP）结合使用，以提供高分辨率和高计数率的测量。
为了提高分析性能，我们准备了激发光学系统的条件，可以*大限度地提高半导体探测器的能量分辨率和计数灵敏度。

尺寸图

应用实例

• 同时分析碘化铯 （CsI） 化合物中的碘 （I） 和铯 （Cs）
• 焚烧灰烬分析实例
• 水泥分析示例
• 采石场沉积物、砾石和碎石的现场分析示例
• 铝合金镁测量示例（各种类型）
• 农药污染土壤分析
• 工业废弃物分析
• 土壤中有害重金属元素的分析
• 油中的硫分析
• 新型固体燃料RPF分析

OURSTEX160规格