表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ XC/DH803-Ⅱ

表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ

表面污染检测仪采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。仪器采用进口薄窗盖革探测器，具有较高的探测效率,适用于α、β辐射表面污染检测，X、γ辐射剂量率的监测。该检测仪是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α、β辐射表面污染检测或X、γ辐射防护监测的理想仪器。表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
功能特点  表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
采用进口薄型盖革探测器，探测效率高；
可测量α、β、γ、X射线；
探测和测定表面沾污； 
调查环境污染；
测定惰性气体及其他低能放射性核素；
建筑装饰材料放射性测定；
超阈值报警；
声响频率指示放射性强度；
可设置剂量率报警阈值；
便携式，一体化设计，质量轻；
超低功耗设计；
LCD液晶显示，会话式操作界面；
计数率显示CPM、CPS、μSv/h；
在操作放射性核素时监测可能存在的放射性暴露量；
阻塞报警；
电池失效报警。
技术指标  表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ
测量范围：CPM为0～300 000，CPS为0～5 000，µSv/h为0.01～1 000 
探测器：MCA窗式盖革计数管（进口），有效直径为45 mm；
探测效率：Sr-90(546 keV，2.3 MeV βmax)约75%，Am-241(5.5 MeV α)约36%
灵 敏 度： 3500 CPM/ mR/hr（对于Cs^-137）
仪器本底：每分钟计数≤60 CPM
相对基本误差：≤15%
供电电源：2节普通5号电池或充电电池
功耗：整机功耗约8 mW，电流≤4 mA
温度范围：相对湿度≤90%（40℃）
尺寸质量：0.3 kg；135 mm×70 mm×25 mm

1.一年质保，终身维护。  表面污染检测仪 XC/DH803-Ⅱ

2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、

故障我们免费修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应。

4.保证及时向用户以**惠的价格提供所需的备品备件和易损件。