日立HITACHI双光束紫外可见分光光度计 镀层厚度和成分测量分析仪EA1400

为什么选择日立 XRF RoHS 分析仪?
●操作方便

●自动采样

●灵活校准以适应新的RoHS标准

●自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果

●快速测量

●大样品舱满足各种样品

●视听测量指示器

●添加镀层和元素分析的选项

EA1000AIII

●探测器：硅半导体检测器（无需液氮）

●塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的测量时间*：小于70秒

●高浓度BrSb塑料中Cd、Pb、Hg、Cr的测量时间*：小于230秒

●元素范围：Al（13）至U（92）

●样品状态：固体/粉末/液体

●测量面积：1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ（电动开关）

●样品舱：宽370×深320×高120毫米

●过滤器：5个位置

●样品观察：CCD全彩摄像机

●操作：台式机的笔记本电脑

EA1400

●探测器：SSD（无需液氮）

●元素范围：Al（11）至U（92）

●样品状态：固体/粉末/液体

●测量面积：1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ（电动切换）

●样品舱：宽304×深304×高110毫米

●过滤器：4款，5种模式，自动切换

●样品观察：CCD全彩摄像机

●操作：台式机电脑

EA6000VX

●探测器：高分辨率SDD

●元素范围：Mg-U（使用氦吹扫时为Mg-U）

●样品舱设计：封闭式

●XY 轴样品台选择：自动台

●* 大样品尺寸：270 x 220 x 150 毫米

●* 大数量准直器：4

●滤光片：6 种模式自动切换

●*小的准直器：0.2 毫米

●X-ray Station & Mapping Station 软件

*注：总测量时间是指达到统计误差（3西格玛）所需的时间，Cd为20ppm，其他元素为100ppm（在日立推荐的条件下测量）。