代理原装进口英国雷尼绍 拉曼-扫描探针显微镜/原子力显微镜 (SPM/AFM) 联用系统 拉曼-SPM/AFM

选择*好的系统

• Bruker Nano Surfaces
• Nanonics
• NT-MDT
• JPK
• Park

选择您需要的*好的SPM/AFM。

图片： 碳纳米管的AFM形貌像 (A) 和TERS图像 (B)。TERS图像提供了纳米管束中不同功能管分布的高空间分辨率信息。

TERS：针尖增强拉曼散射

所选的inVia-AFM系统能够进行针尖增强拉曼散射 (TERS)。这种令人兴奋的技术利用尖锐的等离子体针尖，获得纳米尺度的化学信息。

TERS扫描成像是对StreamLine™大面积快速成像和StreamLineHR™快速高分辨成像的补充，您可以灵活地以您需要的分辨率研究样品。

*大效率

雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。利用反射镜引导光，提供比光纤的光学耦合更高的效率。您可以更快并以更高的信噪比获得光谱。

准直很容易。所有的联用系统均提供具有白光照明的内置摄像头，您可以同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑，这对TERS工作非常重要。

相同的位置，相同的时间

您可以相信数据的可靠性。可以不移动样品而从相同的点同时采集拉曼和AFM数据。这样就确保了数据的一致性，即使您的样品随时间发生变化。

一套联用系统

分析是定位共同点的。您无需在系统间移动您的样品，然后费力地寻找相同的关注点。

两名使用者可以同时且独立地操作inVia和SPM/AFM，而且不会影响这两台仪器的任何性能。您拥有一台拉曼系统、一台SPM/AFM系统和一套拉曼-SPM/AFM联用系统。

选择*好的系统

雷尼绍SPM专家很愿意与您讨论您的特殊需要，并向您推荐*佳方式，将inVia整合到您选择的SPM/AFM系统中。请联系我们，了解这项技术怎样深化您对纳米尺度的理解。

增强您对纳米尺度结构的了解

雷尼绍开发了优化的直接耦合技术，使inVia显微拉曼成为与多种SPM联用的理想搭配，具有针尖增强拉曼散射 (TERS)、近场技术 (SNOM, NSOM) 和拉曼-AFM等能力。

inVia显微拉曼光谱仪已经与NT-MDT和Nanonics Imaging公司的AFM/SPM扫描探头完全整合，提供成功的集成系统。此外，还可以与其他SPM或AFM耦合。

用于科研机构和工业的纳米形貌技术与分析系统

实现*高生产力

只有雷尼绍与NT-MDT和Nanonics Imaging能够提供完全整合的、真正一体化的AFM-拉曼系统。雷尼绍的AFM-拉曼系统具有以下优点：

• 集成系统为您省时 — 机械和软件已完全集成，您可以集中精力进行数据采集和分析
• 数据采集速度更快 — 样品和拉曼光谱仪直接耦合在所有配置中实现了效率**化
• 信任专家 — 半导体器件上的**个TERS测量（发表于2001年）和**个拉曼-AFM/NSOM测量（发表于1995年）都是利用雷尼绍拉曼系统完成的
• 放心选择 — 雷尼绍拥有丰富的经验和技术，为您集成拉曼和SPM系统

雷尼绍拉曼-SPM系统能为您做什么？

AFM与拉曼联用
您可以采集高空间分辨率扫描探针数据和高速远场拉曼数据（通常分辨率为亚微米量级）。可将拉曼数据记录下来并与高空间分辨率形貌、电子、热学和近场光学等数据相互关联。

对石墨烯样品进行拉曼分析（见右图）可识别5种独特的石墨烯厚度，包括单层膜和双层膜区域。拉曼数据用于指导SPM实验，在感兴趣的区域进行形貌、电容和传导测量。

TERS — 针尖增强拉曼（或称无孔径近场拉曼）
一个针尖用以在样品被激光照亮的较大范围内的极小区域增强拉曼信号。此配置提供拉曼技术中的*高空间分辨率。

TERS所具有的优异空间灵敏度可使用多层材料展示。旁边的图片对硅锗上的薄硅层的近场 (TERS) 和远场光谱进行了比较。TERS所具有的优异表面灵敏度使表面硅层的拉曼峰强比频率较高的锗硅层的拉曼峰增强了许多。

如需详细了解该科技如何提高您对纳米技术的认识，或者SPM/AFM与inVia显微拉曼光谱仪联用的信息，请填写在线查询表，也可以联系当地的拉曼业务代表。

用于科研机构和工业的纳米形貌技术与分析系统

实现*高生产力

只有雷尼绍与NT-MDT和Nanonics Imaging能够提供完全整合的、真正一体化的AFM-拉曼系统。雷尼绍的AFM-拉曼系统具有以下优点：

• 集成系统为您省时 — 机械和软件已完全集成，您可以集中精力进行数据采集和分析
• 数据采集速度更快 — 样品和拉曼光谱仪直接耦合在所有配置中实现了效率**化
• 信任专家 — 半导体器件上的**个TERS测量（发表于2001年）和**个拉曼-AFM/NSOM测量（发表于1995年）都是利用雷尼绍拉曼系统完成的
• 放心选择 — 雷尼绍拥有丰富的经验和技术，为您集成拉曼和SPM系统

雷尼绍拉曼-SPM系统能为您做什么？

AFM与拉曼联用
您可以采集高空间分辨率扫描探针数据和高速远场拉曼数据（通常分辨率为亚微米量级）。可将拉曼数据记录下来并与高空间分辨率形貌、电子、热学和近场光学等数据相互关联。

对石墨烯样品进行拉曼分析（见右图）可识别5种独特的石墨烯厚度，包括单层膜和双层膜区域。拉曼数据用于指导SPM实验，在感兴趣的区域进行形貌、电容和传导测量。

TERS — 针尖增强拉曼（或称无孔径近场拉曼）
一个针尖用以在样品被激光照亮的较大范围内的极小区域增强拉曼信号。此配置提供拉曼技术中的*高空间分辨率。

TERS所具有的优异空间灵敏度可使用多层材料展示。旁边的图片对硅锗上的薄硅层的近场 (TERS) 和远场光谱进行了比较。TERS所具有的优异表面灵敏度使表面硅层的拉曼峰强比频率较高的锗硅层的拉曼峰增强了许多。

如需详细了解该科技如何提高您对纳米技术的认识，或者SPM/AFM与inVia显微拉曼光谱仪联用的信息，请填写在线查询表，也可以联系当地的拉曼业务代表。