Labthink兰光CHY-C2型高精度测厚仪技术资料CHY-C2测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。了解详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询 CHY-C2测厚仪技术指标测量范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)净 重：33kgCHY-C2测厚仪标 准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI
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