导电薄膜方块电阻测试仪,导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),方块电阻测试仪, 双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高**度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试
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