X-RAY XUL 菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲,希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

MicronX X荧光测厚仪MicronX 设计的有如下特点：●精密的光学系统变焦， 激光辅助聚焦， 和计算机发生的十字线能对极小的部件和结构精密定位。●应用界面的设计者用户可用图标板创建专用的应用

CMI243 便携式金属镀层测厚仪采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称

测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术，日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。,日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层

Compact eco X射线荧光分析测厚仪 可测量厚度范围：22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

CMI900台式X荧光镀层测厚仪坚固耐用的设计，可以在实验室或生产线上操作。经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台。适用行业：电子元件，五金电镀，合金。

CMI900 X荧光镀层测厚仪CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪快速**的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线

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上海铸金多系列的手持式X荧光光谱仪（合金分析仪、RoHS测试仪、矿石分析仪、土壤重金属检测仪、XRF镀层测厚仪……）用于诸多领域。Niton手持式合金分析仪XL5(尼通手持X荧光光谱仪)具有小巧,，快速，精准，稳定的特点。本页面介绍了Niton手持式合金分析仪XL5(尼通手持X荧光光谱仪)技术优势、应用领域等方面内容。