ROHS检测仪器，XRF检测仪直销，ROHS分析仪：铜成测试，金属材料光谱分析仪，涂层材料分析测试，古董检测仪器，测量金属含量的仪器，华唯Ux-230 X荧光光谱分析仪

技术指标分析精度：0.05%测量元素：从硫至铀，ROHS指令有害元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br的检出限...

X-RAY XUL 菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲,希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

X荧光光谱仪GX-300A 高鑫检测设备有限公司为您提供的GX-300A X荧光光谱仪根据能量色散 X 射线荧光分析法进行分析。

（1）X射线荧光光谱仪应对环保指令：RoHS&WEEE指令、RoHS2.0指令、无卤指令、EN71指令、CP65、HR.4040、ASTM-F963、GSZEK01.4-08、2012/48/EU,、欧盟94-62-EC（指令）、GB/T17592等国内外环保指令。（2）X射线荧光光谱仪目前电子产品所管控的有害重金属有：RoHS中的Pb、Cd、Hg、Cr元素；玩具、纺织和鞋材包装行业中的重金属有：As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Hg、Mn、Ni、Pb、Sb、Se、Sn、Sr、Zn元素；

日本岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400 1：高稳定性?高自动化，快速，高灵敏度?高精度分析 2：固定分光器 弯曲晶体聚焦分光，全元素真空型 3：扫描型分光器 平板晶体平行束方式

分 析 范 围: 1PPM-99.99% EDX-3600能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度**至0.005微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体

SD手持式X荧光光谱仪激发源：X射线管，Ag靶，40kV检测器：XFlash硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps　

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用

扫描型X射线荧光光谱仪mEDX-1200/1300对于因分辨率不足即使X射线强度足够也难以进行的电子部件、电路板以及食品中的异物等微小局部的测定，本装置可进行高灵敏度、高分辨率、分析直径*小至50mm的分析。

X-RAY XULM X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。

曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。 华唯Ux系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。华唯Ux-220 X荧光光谱分析仪

Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大