激光电子经纬仪LT302/LT302L增加激光(激光部分采用635nm半导体激光发射器)发射系统改制而成。激光通过望远镜发射出来，与望远镜照准轴保持同轴、同焦。因此本产品除具有电子经纬仪的所有功能外，还提供一条可见的激光束，十分利于工程施工。

激光粒子计数监控系统CW-RPC200：为用户提供了实现多种功能的接口，能实时准确地远程测量所在环境的微粒数量和净化级别，通过RJ－45网络接口、它将信号的振幅分布传送给PC终端的USB通讯接口,、用户可对超净生产环境自动监控。它可专业应用于电子行业、制药车间、半导体、光学或精密机械加工等超净环境自动监控系统。

785nm红外半导体激光器，功率稳定、可调节、操作简便；电源自带过热、限流保护电路；采...

Ranger美国激光测距仪/测距望远镜R600B 产品参数：测距范围：15—600码（在效果好的测量条件下可以测距在550米左右)测距方式:半导体激光测距(对人眼无害)测距误差：±1m测距显示方式:视野内LCD显示

CLJ-E系列双流量激光尘埃粒子计数器 主要技术参数及性能：1.光源: 全半导体 激光光源2.采样量: 2.83L/min-50L/min(0.1cfm/min)3.检测范围: 100级～100万级

粒度分布测量仪 世 界 上 *** 个 采 用 蓝紫色半导体激光（波长405nm） 作 为 光 源 的 测 量 装 置。

日本三和（sanwa）光学/激光功率计OPM-570L特点：波长650-680nm可见半导体激光波长760-830nm红外线半导体激光无需电源/电池4mm厚传感器头

美国LTI激光测距仪IMPULSE100 美国LTI激光测距仪IMPULSE100优点:工业级标准、不必使用反光片、强固结构、体积小、重量轻 性能**可靠、使用不伤眼的半导体激光技术

光功率计OPM570L 带护套,半导体激光专用日本三和Sanwa|光功率计OPM570L650-680可视半导体激光760-830红外半导体激光不用电源和电池采用4mm薄型探头架

OUKA-DJJ-7型多功能激光接触网检测仪是DJJ型多功能激光接触网检测仪系列的较新升级产品。该仪器是电气化铁路接触网几何参数测量的专用仪器。本仪器系采用红光半导体激光器和相位脉冲技术，可对,接触网的导高、拉出值、定位器坡度、锚段关节、线岔、超高、轨距及红线等14个几何参数进行快速测量。它具有体积小、重量轻、**可靠、速度快、显示直观、准确度高、使用方便等特点。多功能激光接触网检测仪

BCJ—1 激光尘埃粒子计数器 半导体激光光源 UCL 计算 采样量 2﹒83（L/ min） 粒径 0.3，0.5，0.7，1.0，2.0，5.0，（μm）