SMD-540数显式厚薄表|日本得乐TECLOCK电子式测厚规|SMD540

手持式薄膜测厚仪又名薄膜测厚规主要用于测量纸张、皮革、橡胶、织物及各种金属板材、玻璃板等的厚度.

日本TECLOCK得乐测厚规SM-528品牌：TECLOCK(得乐）分类：仪器仪表 ? 膜厚计 ? 膜厚计型号：日本TECLOCK得乐测厚规SM-528/SM-112/SM-114/SM-124

PG-10厚度表 P系列厚度计批发指针型界限规、电子式量表、外接式电子杠杆量表、高精度电子式量表、电子量表显示器、针盘式千分表、针盘式百分表、针盘式量表、指针式比测型量表、千分表、杠杆式量表、指针式厚度计、大型厚度计,、电子式厚度计、深度计、外卡规、内测规 日本孔雀株式会社 日本孔雀牌 PEACOCK 尾崎制作所 G G-MT G-1A G-2 G-4 H H-MT H-1A H-2 G-6C G-

1.03塞规激光外径检测仪/1.04塞规激光外径检测仪/1.05塞规激光外径检测仪玻璃纤维测量, 细金属丝直径的在线测量, 气缸外径测量滚筒外径测量, 滚筒外径与跳动的同时测量电线，光纤，滚筒XY,测量外径光纤连接器与套圈测量IC部件的脚间距，宽度，间隙的测量轮间距的测量, 橡胶滚筒测量, 薄膜厚度测量形状测量, 精密轴测量, 插芯轴测量超大辊轴外径的双机测量超大滚轴外径的双机测量, 树脂教官XY同时测量圆通间隙测量, 销规外径, 塞规外径, 数据输出,同时测量电线，光纤，光轴XY同时测量光轴外径与跳动的同事测量钨钢捧外径与跳动的同事测量胶片厚度不均匀程度测量薄板厚度不均匀程度测量光盘的移动测量, 滚扎卷测量磁盘磁头的移动测量胶带寛度连续测量, 胶辊

手持式测厚仪，薄膜测厚规，手持式测厚仪，薄膜测厚规，本手持式测厚仪主要用于发泡人造革、橡塑、纸张等物体厚度的测量

TEMP II划格标准板及湿膜厚度规符合ISO 2409, ISO 2808-7B AND ASTM D 3359-B标准。划格标准板及湿膜厚度规能为划格法测附着力提供标准间距，也能用于测量湿膜厚度。

日本得乐牌测厚规

日本得乐TECLOCK测厚规SM-1201系列

德国马尔 Millimar C1216M，德国马尔 Millimar C1216M是应用于生产现场的电子长度测量及评估设备. 其两种规格: C1208/1216M, T, F: 可连接 1 或 2 个电感测头. C1208PE: 可连接 1 个气动传感器(气动塞规, 气动环规).

测厚规|日本TECLOCK测厚规SM-112.在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

SM-114加长型测厚表测量范围:0-10mm喉深:120mm*小读数:0.01mm 表类量具系列:深度表.比较测定百分表.千分表.百分表.电子数显百分表.电子数显千分表.数显厚溥表.电子数显厚薄表.厚薄表.测厚规.电子数显深度表.标准型百分表.花齿石测微台.测微台.杠杆表.高度计

测厚规测厚规测厚规测厚规带有快速提升杆，能准确的测量产品的厚度，如管壁，钢板，*大量程为10mm，宁波三和0574-55008768/15558380603

SM-1201厚薄表|日本得乐TECLOCK指针式厚度计SM1201 日本得乐测厚规 品牌：TECLOCK(日本得乐) 适用范围：用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

测厚规 823 测厚规 823 主要用于测量纸张、皮革、橡胶、织物及金属板材、玻璃等的厚度。