德国马尔 Millimar C1216M薄膜测厚仪 MillimarC1216M
德国马尔 Millimar C1216M薄膜测厚仪

德国马尔 Millimar C1216M,德国马尔 Millimar C1216M是应用于生产现场的电子长度测量...

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日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J
日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J

日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J类型 薄膜测厚仪品牌 日本TECLOCK得乐型号 日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J测量范围12(mm)显示方式数显外形尺寸30(mm)电源电压3(V)

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PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜表 厚度计 测厚规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商 T2-205W
PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜度计 测规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商

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N磁性测厚仪 TST-GT318
N磁性测厚仪

用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的度。本器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。 ,N磁性测厚仪由德国生产,一体式器结构,可以单手操作。它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层度,还可

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薄膜测厚仪,薄膜测厚仪
薄膜测厚仪薄膜测厚仪

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日本得乐SM-112测厚规 SM-112
日本得乐SM-112测

东莞奥通器设备有限公司提供日本得乐SM-112测规,度计,测表,厚薄表,TECLOCK 测厚仪,SM-112测表,直接供货价格优势明显.日本得乐SM-112测规用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的度测量。在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件度。指针式测规可以作为物品检测时的基础测量。

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反射光谱薄膜测厚仪 TFMS-LD
反射光谱薄膜测厚仪--TFMS-LD

TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪,可快速**地测量透明或半透明薄膜度,其测量范围为15nm-50um,器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率,并且采用光纤反射探头。器尺寸小巧,方便于在实验室中摆放和使用。

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JS-QCHY-U   测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U JS-QCHY-U
JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U

JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度���厚仪 型号:JS-QCHY-U 适用于2mm范围内的塑料薄膜片、隔、纸张、箔片、硅片等各种材料的度**测量。关键词GB/T 6672、GB/T 451.3、测厚仪薄膜测厚仪、高精度测厚仪、机械接触测厚仪

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电池隔膜测厚仪(labthink测厚仪) CHY-C2
电池隔测厚仪(labthink测厚仪)

电池隔测厚仪(labthink测厚仪)适用于量程范围内的塑料薄膜片、隔、纸张、箔片、硅片等各种材料的度**测量。了解电池隔测厚仪详情请致电:济南兰光0531-85068566 或 E-mail:marketing@labthink.cn 咨询

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CMI测厚仪 CMI 233
CMI测厚仪

英国牛津器(Oxford)总代理方源器专业供应CMI测厚仪。CMI测厚仪是高科技电子技术和软件的*佳组合,多功能、耐用的设计,专为适应*恶劣的工作环境而制造,典型应用于表面处理工业。该器广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜度的测量。

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台式千分测厚仪CH-1-ST CH-1-ST千分测厚仪
CH-1-ST台式千分测厚仪

CH-1-ST台式千分测厚仪,名称:千分塑料簿片台式测厚仪,分度值:0.001mm,测量范围与准确度:0mm~1mm≤0.005mm,主要用途:适用于实验室对塑料薄膜片试样度的测定(大测量深度为80mm),CH-1-ST台式千分测厚仪

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HCH-2000B型超声波测厚仪 HCH-2000B
HCH-2000B型超声波测厚仪

宁波瑞德检测器有限公司提供HCH-2000B型超声波测厚仪,人机对话采用当今流行的薄膜面板,具有体形小,容易操作,携带方便,是锅炉、高压容器、储罐、管道等理想的度测量工具。HCH-2000B型超声波测厚仪,HCH-2000B型超声波测厚仪

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涂层测厚仪 456系列
涂层测厚仪

此系列的涂层测厚仪薄膜测厚仪)由于测量涂层度,包括铁基和非铁基上的涂层,可测量的涂层度范围为um级别,可测量范围是0~1500um.

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