MX5超声波测厚仪 MX5超声波测厚仪 ,手持式超声波测厚仪是一种可信赖的精密测量工具，无需特别培训即可操作。将探头放到被测材料的上面，就可读出被测材料的厚度，或是沿被测材料的表面拖动探头，MX-3可以自动找出被测材料的*薄点。

A1209 超声波测厚仪是通用型超声波测厚仪，具有大型高对比度显示器，集成的额外功能和各种测量模式，可与4至10 MHz范围内的所有双晶探头配合使用并内置存储器 ，适合检测各种物体。A1209, 超声波测厚仪自动适应表面曲率和粗糙度（动态阈值）的**算法使得可以在小曲率半径的腐蚀表面以及平坦的光滑表面上执行测量，而无需任何额外的调整，这使得检查过程更容易并且更快。

过高等特殊情况下的应用，一般的一体式超声波液位计安装在此环境都无法正常工作。但是EchoDucer独特的连接方式使超声波探头可以避开安装件的干扰，并且，仍然采用了Flowline成熟的数字化技术，*大量程,EchoDucer液位计独特之处是变送部分与探头部分由一个连接线连接，并且此连接线的长度可选。这种液位计外形容易让人联想到分体式液位计，但是要远比分体式液位计经济简单。主要应用于罐顶厚度过大或短脖

德国VEG超声波物位计/液位计/超声波物位计 超声波传感器VEGASON61、62、63、64、65、66适于测量液体介质和固体介质。这几种仪表的区别在于：测量范围、探头的形式和过程连接。通过不同的发射频率，测量范围可以从5米至70米。探头和过程连接采用稳定的材料，可以测量腐蚀性介。

PosiTector UTG超声波测厚仪，美国DeFelsko公司PosiTector UTG超声波测厚仪可测量多种材料的厚度，包括：钢、铁、塑料等等，PosiTector UTG超声波测厚仪标准配置包括主机、5MHz探头、电池、耦合剂、说明书、校准证书、仪器箱

单晶微型横波斜探头 超声探伤小径管探头用于小直径薄壁管焊接接头的检验。单晶微型横波斜探头检测标准参照电力行业标准 DL/T820 2002《管道焊接接头超声波检验技术规程》，适合检测管径≥32mm、小于等于 159mm，壁厚≥4mm、小于 14mm 的小直径薄壁管；

； 可编程继电器报警输出； RS-232，RS-485接口，可编程； 环境温度： 0～70℃（探头-30℃～100℃） 精 度： 1.0% 显示值（标准条件下） 测

MOBREY MSM400超声波密度计
MSM400悬浮颗粒监控仪是一种基于微处理技术的多功能监测仪表，它具有HART 兼容功能，同时具有多项显示，控制，报警和通讯功能。
菜单式编程,简单明了，而且可以通过操作面板按键进行编程。
配MSM433/MSM448探头探头距离需要根据具体场合确定）
◎校正简便易行
◎微处理器技术
◎模拟输出
◎HART 兼容
◎可面板按键操作
◎定值控制
◎自动排泥控制

SW5 超声波测厚仪原理：超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定,被测材料的厚度。时代天晨超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路

TT320超声波测厚仪配备了高温探头，可测量高温材料，被测工件表面温度*高可到300度，由于本仪器声速可调，因此可以测量除钢以外的任何超声波良导体材料在高温状态下的厚度。

超声波直探头 超声波斜探头 超声波双晶探头 上海高致精密仪器有限公司专业提供超声波探头,欢您来电咨询详细信息！我们的**工程师会在种类繁多的超声波探头中给您推荐*适合您的产品，针对不同的被检测工件,不同超声波探头应用范围也会有不同的差别,高致精密会为您选择*恰当的类型和*适宜的测量范围。 咨询电话：021-65738211

信固中文版超声波测厚仪/多重波超声波测厚仪/信固超声波厚度检测仪cygnus 5/信固5通用型是信固系列超声波测厚仪中一款全中文菜单机型，适合在平面、曲面或管道上使用。信固中文版超声波测厚仪多重波,单晶探头技术意味着可以穿过厚涂层进行测量，只显示金属厚度。cygnus 5信固5无需去除保护涂层，快速而准确地测量金属厚度，以确定金属的磨损或腐蚀状况。

超声测厚仪功能特点： MX系列超声波测厚仪是美国DAKOTA ULTRASONICS公司推出的新一代超声波测厚仪。具有使用简单，功能齐全，体积小巧，可靠性高等特点。 MX-3: 手持式超声波测厚仪,是一种可信赖的精密测量工具，无需特别培训即可操作。将探头放到被测材 料的上面，就可读出被测材料的厚度,MX-3可以自动找出被测材料的*薄点。各种特殊用途的探头.

TT100/TT100A超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。