非接地电磁电阻率(带高密度电法)测量系统 非接地电磁电阻率(带高密度电法)测量系统
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非接地电磁电阻率(带高密度电法)测量系统 该电阻率测量系统是一种多种用途的电磁勘查设备,无论是地质勘探,工程检测,城市地下公用工程都有他的用武之地

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上等防雷接地电阻测试仪 M13123
**防雷接地电阻测试仪

M13123**防雷接地电阻测试仪包含接地电阻测试的所有方法:标准四线法、选择电极法、双钳法、土壤电阻率测量。M13123钳式精密防雷测试仪USB/RS232通讯接口,与PCSW软件兼容,.M13123**防雷接地电阻测试仪钳式电流测量功能,范围0-20A,分辩0.1mA。M13123钳式精密接地电阻测试仪.M13123双钳式精密接地电阻测试仪.M13123**防雷接地电阻测试仪

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DRK-4220电阻率测控仪 DRK-4220
DRK-4220电阻率测控仪

DRK-4220电阻率测控仪性能特征:工业流程水质在线电阻率测量与控制仪表,采用翠绿色背景光液晶屏,直接显示以25℃为基准的电阻率值;嵌入式微型计算机芯片,集电阻率测量、控制于一体,电阻率、电导,的切换显示等功能;通过键盘进行电极常数输入、校正,电阻率低限报警设定、控制;隔离式、可迁移4~20mA电流信号输出,可作为仪表模式或变送器模式运行,能方便地与远方PLC或伺服系统匹配。

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MI3123接地电阻测试仪 MI3123
MI3123接地电阻测试仪

MI3123接地电阻测试仪介绍:MI3123接地电阻测试仪包含接地电阻测试的所有方法:标准四线法、选择电极法、双钳法、土壤电阻率测量,钳式电流测量功能,范围0-20A,分辩0.1mA抗干扰能力强.

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kyoritsu 4106 接地电阻测试仪
kyoritsu 4106 接地电阻测试仪

日本共立kyoritsu 4106 接地电阻测试仪采用2线,3线,4线接地电阻测量,(范围0.02~200KΩ),kyoritsu 4106 接地电阻测试仪可以土壤电阻率测量,kyoritsu 4106 接地电阻测试仪可以存储500组数据存储,并提供测试时间,地点信息.

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四探针电阻率测量系统微控制器及配套软件(含通讯) 型号:GSKDY GSKDY
四探针电阻率测量系统微控制器及配套专用软件(含通讯) 型号:GSKDY

四探针电阻率测量系统微控制器及配套专用软件(含通讯) 型号:GSKDY可对四探针、两探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据,特定数据存储格式,显示变化曲线兼容性:适用于通用电脑,支持 Windows XP、Vista,

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接地电阻测试仪4106
接地电阻测试仪4106

接地电阻测试仪4106,金泰科仪检测仪器公司销售的此产品2线,3线,4线接地电阻测量,(范围0.02~200KΩ)土壤电阻率测量94,105 ,111,128HZ多频测量自动频率测量(自动避开干扰,)提供辅助接地桩的接地电阻值及更加**的数值提供测量时间,地点信息,使智能管理成为可能.自动线补偿,使测量结果**无误.

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TX-300A智能金属导线电阻率测量仪 TX-300A
TX-300A智能金属导线电阻率测量

TX-300A智能金属导线电阻率测量仪是我公司推出的**产品,国内外**能便携全自动测量导线、棒材电��率、电导等参数高性能检测仪器。应用电流–电压降四端子测量法、先进的电子技术、单片机技术

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电导率TDS/盐度电阻率测量仪 中国 优势产品  wi126566
电导TDS/盐度电阻率测量仪 中国 优势产品

/cmTDS: (0 ~ 100)g/L盐度: (0 ~ 100)ppt电阻率:(0 ~ 100)MΩ·cm分辨:0.01/0.1/1μS/cm 0.01/0.1 mS/cm,技术参数:测量范围:电导:(0.00~19.99)μS/cm (20.0~199.9)μS/cm(200~1999)μS/cm (2.00~19.99)mS/cm(20.0~199.9)mS

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T991导电和防静电材料体积电阻率测量装置 T991导电和防静电材料体积电阻率测量装置
T991导电和防静电材料体积电阻率测量装置 T991导电和防静电材料体积电阻率测量装置

T991导电和防静电材料体积电阻率测量装置 在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性,本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率,可以克服表面接触电阻造成的误差影响

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油介损及体积电阻率仪 LYDY-V
油介损及体积电阻率

油介损及体积电阻率仪为一体化结构,包括体积电阻率测量、计算机通讯系统及油杯、加热控制系统四部份组成。采用中频感应加热,加热升温速度快,室温加热至控温(90℃)并恒温自动测量只需15分钟;可以同时测量油介损及体积电阻率或任选一项。

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KDY-1A便携式电阻率/方阻测试仪
KDY-1A便携式电阻率/方测试仪 KDY-1A便携式电阻率/方测试仪

KDY-1A便携式电阻率/方测试仪 产品简介 1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体,也可测量薄硅片电阻率及方。3、电阻率测量范围复盖*常用的区段:0.01—199.9Ω·cm。(可,添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能) 方块电阻测量范围复盖*常用的区段:0.1—1999Ω/□。(可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能)4、配置高精度恒流源,测量电流稳定,分两档:1mA,、10mA,每档均可在大范围内调节(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。5、测量精度高:电器测量精度优于0.3%; 整机测量误差:测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3,%。 测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。6、重量轻,约2.5kg;体积小:240×210×100(mm)。7、可配用多种探针间距

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小型标准探针台
小型标准探针台

小型手动探针台*小型手动探针台主要用于Wafer晶圆、液晶显示模组、LED外延片、其他半导体材料及器件的I-V测量、C-V测量、P-I-V脉冲测量电阻率测量、光电测量、高频信号测量、高低温动态测试、可靠性测试等。

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