XL80雷尼绍激光干涉仪主要功能：激光干涉仪的基本配置可以完成数控机床三轴的定位精度、重复定位精度、反向间隙的定位和测量。XL80雷尼绍激光干涉仪增加相应的测量镜组，可以完成数控机床三轴的水平和垂直

SLC数显量仪测力计用于表类，测微类，仪器类等量具测力的检定。表类主要有：百分表，千分表，杠杆表，内径量表等的测力。测微类主要有：千分尺类测力仪器类：立式光字计，扭簧比较仪，乌氏干涉仪等的测力。测力范围：0-15N精度：0.5%分辨力：0.01N

Verifire? Asphere?激光干涉仪在ZYGO工业级Metropro软件平台上运行。除了具有测量非球面的能力，还能作为平面、非球面和曲率半径测量的立体终端。Verifire,? Asphere?激光干涉仪先进的软件功能对五轴电动样品台的控制能够对非球面进行快速方便的调整。被测件的自动调整和数据自动采集和分析等功能使Verifire? Asphere系统成为用户理想的产品测量解决方案。

白光干涉仪采用白光干涉测量传感器，其垂直分辨率可达0.1nm详细技术参数：测量原理:白光干涉测量；测量物镜10X 20X 50X垂直测量范围：100um(400um可选)垂直分辨率 0.1nm；X,,Y测量范围:1.6X1.2mm 0.8X0.6mm 0.32X0.24mm；工作距离：3.6mm 3.6mm 1.7mm侧向分辨率2.5um 1.25um 0.5um 白光干涉仪

量块干涉仪GBI自动量块校准仪量块比较仪GBCD-100A516 系列 — 双头型自动量块比较仪特点? 采用光学干涉，是一种适于对0.1mm - 250mm量块进行测量的自动测量仪。

美国4D动态光学干涉仪美国4D Technology 公司是采用干涉技术进行波前测量的佼佼者，其采用瞬时相移干涉技术(SPSI) 的动态干涉仪，可以应用于光学系统现场检验、复杂/恶劣环境的光学检验,，已经在世界范围内的先进激光、空间光学、天文光学、**光学等领域得到广泛应用。其动态光学轮廓仪解决了大尺寸组件粗糙度测量的难题。除此之外， 4D公司还推出了高性能的静态标准菲索干涉仪

内设有恒温室及两个万级的恒温无尘车间，作为精密仪器、关键部件的QC和生产组装用途，拥有两台美国API双频激光干涉仪作为公司的计量基准。18758415506易小姐,宁波怡信投影仪EP-1510 EP-2010 EP-2515适用于精密工业如模具、工具、螺丝、齿轮、钟表、自动车床加工、光学部件、航空等等工业的制造、设计开发、品管检验与学术研究用途。厂房

傅立叶变换红外光谱仪不仅可以实现强大的定性功能，也能实现定量的分析；不仅能实现常量样品的分析，也能通过附件的结合实现微量样品的分析。光学系统采用镀金反射镜等高精度光学元件，实现能量高效率利用。干涉仪,是FTIR的核心装置，其高精度扫描是高灵敏度测定的关键。FTIR的干涉仪中，分束器部分极易吸附水汽受潮劣化，影响测定性能。

设计与操作： SP系列微型干涉仪为纳米级精密测长仪器。采用平面镜或具有光学特性的反射表面为靶镜，并允许有若干分的准直角度误差而不影响激光束的正常工作。利用光纤耦合技术将激光器与干涉系统,隔离， 其微型激光传感测头与立体角锥棱镜可组成紧凑的测量系统平面镜运动产生的光学干涉信号通过光纤传输到光电信号处理与激光电源单元，经数据处理变为位移长度值。采用大范围动态稳频激光器与环境参数实时采集动

安捷伦 Agilent 86120B波长计用开发、制造、安装86120B 多波长计 86120B 多波长计基于Michelson干涉仪测量概念的宽波长范围*高精度描述 安捷伦多波长计系列86120B、86120C和86122A是理想的优化工具，可有效针对下一代应并验证光元件和网络。

测向机R&S?DDF255将新型高性能宽带接收机R&S?ESMD与**的相关干涉仪测向体制相结合，具有高精度测向、宽带测向、综合测试和分析等功能。R&S?DDF255具有高度的集成度和可选的DC供电选件，所以特别适于移动和可搬移应用。

RENISHAW测头、RENISHAW测针、RENISHAW光栅尺、RENISHAW读数头编码器、RENISHAW无线球杆仪、RENISHAW激光干涉仪

PG150-PC激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于平面类光学元件检定和校准光学平晶（包括玻璃、金属、陶瓷等），配备高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面 标准镜等一系列高精技术。PG150-PC激光平面干涉仪通过优化光学系统和机械系统结构，可实现高精密平面光学元件的测量。