防静电撬棒 HWD-SJQB980508刀形
防静电撬棒 HWD-SJQB980508刀形

防静电撬棒采用高分子碳纤改性制作而成,弹性好,经久耐用,不掉灰,耐酸碱,耐高温,可避免传统防静电镊子因含炭黑而污染产品,防静电撬棒适用于半导体,IC等精密电子元件、手机装配生产使用,并为光学镜片、裸片、CSP、手机装配、光电器件提供了一种**且洁净的的装配工具

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蒸汽老化试验箱 HQ-ZQ2
蒸汽老化试验箱 HQ-ZQ2

蒸汽老化试验箱适用于:半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业?电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验。

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手持式机械故障电子听诊器 LT10
手持式机械故障电子听诊器

维修,从而保证各设备的正常运转,避免由于设备损坏而造成巨大经济损失。手持式机械故障电子听诊器采用IC电路及晶体管组装。具有体积小,重量轻,操作方便的特点,是设备维修人员得力的必备工具。,手持式机械故障电子听诊器是根据国外先进技术开发的一种新颖的高性能维修工具,轻巧便于携带,重量仅为100克,特别适用于噪声中使用,可轻易地查探设备早期隐患,手持式机械故障电子听诊器便于对设备及早进行

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AL204-IC电子天平 AL204-IC
AL204-IC电子天平 AL204-IC

AL204-IC AL204-IC电子天平AL204-IC电子天平*大读数精度0.1mg/毫克,*大称重值220g/克。AL204-IC电子天平可自动内校,内置RS232通讯接口可连接电脑打印机。AL204-IC具有简单称量、百分比称量、计件称量、动态称量、加减称量等内置应用程序

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上海贝岭电源管理芯片 上海贝岭电源管理芯片一览表
上海贝岭电源管理芯片 上海贝岭电源管理芯片一览表

上海贝岭电源管理芯片(BELLING) :中国微电子行业**家上市公司,特种电路研究所专业从事电源管理IC设计开发, 主要产品:

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2K 位EEPROM 逻辑加密存储卡 BL7432LV BL7432LV
2K 位EEPROM 逻辑加密存储卡 BL7432LV BL7432LV

上海图一BL7432LV 是采用1.2 um CMOS EEPROM 工艺制造的2K 位IC卡芯片,为BL7442LV 2K 位加密存储卡电路,去掉加密保护功能后的简化版。BL7432LV由256,×8 位主存储器和32 位保护存储器组成,带写保护功能,可在3V-5V电压下工作。触点定义和串行接口符合ISO7816 标准,双线通讯,遵循ISO7816-3 标准。BL7432LV可用于电子消费卡、公司

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标准型冷热冲击试验箱 标准型
标准型冷热冲击试验箱 标准型

标准型冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

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南京冷热冲击试验箱 HQ-TS-80
南京冷热冲击试验箱 HQ-TS-80

南京冷热冲击试验箱广泛用于:电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。

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梅特勒-托利多AL104-IC电子分析天平  AL104-IC
梅特勒-托利多AL104-IC电子分析天平 AL104-IC

AL104-IC 梅特勒-托利多AL104-IC电子分析天平 ,采用具有良好耐腐蚀、抗冲击性能的ABS工程塑料,确保天平结构的轻便、坚固,清晰的显示屏和键盘按键设计,方便用户使用

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上海贝岭BL7442LV 2K 位EEPROM 逻辑加密存 BL7442LV
上海贝岭BL7442LV 2K 位EEPROM 逻辑加密存 BL7442LV

上海贝岭BL7442LV 是上海贝岭自行开发,BL7442LV采用1..2 um CMOS E2PROM 工艺制造的2Kbit 加密IC 卡芯片。BL7442LV 256 字节,BL7442LV带,写保护功能,BL7442LV具有可编程密码(PSC),可在3V~5V 电压下工作。BL7442LV 有A 型和B 型两种,可用于电子消费卡、公司卡、健康卡、会员卡和ID 卡等等。上海贝岭对此产品拥有集成电

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静电消除剂|静电去除剂 P2608静电消除剂
静电消除剂|静电去除剂 P2608静电消除剂

等)表面、包装制品上的消除静电、** ,电子元器件,电子元器件存储盒,IC托盘、管材等表面防静电生产过程、运输、接收过程中由于静电放电导致电子器件的损坏

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蒸汽老化试验箱 SZQ
蒸汽老化试验箱 SZQ

蒸汽老化试验箱适用于各电子连接器及具沾锡之电子产品、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容产业,电子零组件金属接脚粘锡性试验前的加速老化试验。

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温度循环试验箱 WH TST-80L-65
温度循环试验箱 WH TST-80L-65

温度循环试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

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