膜厚测试仪 Filmetrics F40 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 膜厚测试仪的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

纳米位移系统**技术取得了国家知识产权局核发的**证书，拥有自主知识产权，该技术源于美国，在中国生产制造。　　纳米位移系统的应用越来越广泛，从原子力显微镜、精密光学设备、半导体设备到各种高新技术行业,和制造的纳米位移台使用柔性铰链将技术将运动装置连接到固定基座上。纳米位移台内置高精密传感器，闭环控制时，三英的传感器技术在保证线性度的前提下，可以实现纳米级别、亚纳米级别的分辨率。　　控制器为纳米位移,。纳米位移系统能够产生和测量优于纳米(nm)的位移，整个系统包含3部分：纳米位移台、控制器和控制软件。　　纳米位移台是一种机械装置，内部有一个或多个压电陶瓷，由压电陶瓷产生单轴或者多轴的运动。三英设计

电脑型透反射测量显微镜TM107JC采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸，以及其它精密零件测量。广泛地适用于计量,室，生产作业线以及科学研究等部门。电脑型透反射测量显微镜TM107JC配有高精度的工作平台,日本Mitutoyo的数显测微头,日本进口摄像器。可以直接在计算机���幕上瞄准，无须人眼瞄准，减小人为误差。

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精密测量显微镜——用途精密测量显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的。作为**金相显微镜使用，可用来鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定、原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。

用途：数字式万能工具显微镜JX11B在**代万工显JX7的基础上，采用了光栅测量技术，以数字显示和打印记录的形式直接给出长度测量数值，从而提高了测量工作效率和减轻了操作者的劳动强度。本仪器是一种,多用途的精密光学计量仪器，**地测量零件的长度和角度，并可检查零件的形状，尤其适用于测量螺纹的参数，测定成形刀具、样板的轮廓及形状，是仪表、机械行业计量室、车间检定站必备的计量光学仪器之一

测量工具显微镜,VTM-2515,VTM-2515G,VTM-2515F.它被广泛应用于如电子元件,精密模具,精密刀具,弹簧,塑料,橡胶,油封止阀,相机零件,汽车零件,PCB加工等领域.

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19JC数显式万能工具显微镜 19JC万能工具显微镜是一种在工业生产和科学研究部门中使用十分港反的光学计量仪器。仪器具有较高的测量精度，使用于长度和角度的精密测量；同时邮局配备有多种附件，使其使用范围得到充分的扩大。仪器可以用,影像法、轴切法和接触法按直角坐标对机械工具和零、部件的长度、角度和形状进行测量，主要的测量对象有：刀具、量具、模具、样板、螺纹和齿轮类工件等。19JPC微机型是应用计算机辅助测量程序，能解决各种复杂的

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小型工具显微镜 JGX-1是应用非常广泛的精密光学计量仪器之一。测量范围广、**可靠、操作方便，因而特别适用于精密机械制造与工具制造工业。

SPNS2000双极型电容位移传感器特点：纳米级分辨率；零磁滞；线性0.02%；频带可调50～5000HZ；灵敏度可调；应用：压电微位移、振动台，电子显微镜微调，天文望远镜镜片微调，精密微位移测量等。