.高精度回零椭圆光度法 2.的空间分辨率(1μm), 大面积图像椭圆光度法（多达若干cm2） 3.或多重的激光波长 4.的自动测角计，用于入射角调整n EP3View专用软件，用于仪器控制和基于Windows?的数据分析 5.关注区域及Δ，Ψ绘图n 可通过局部网络实现远程控制和服务

ME-L是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业前沿的**技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于半导体薄膜

SpecEl 椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。

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除了能够进行高精度薄膜分析的分光椭圆偏振光谱仪之外，还可以通过安装测量角度的自功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子动可变机构来支持各种薄膜。除了传统的旋转分析仪,方法之外，通过提供相位差板的自动功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子回缩机构来提高测量精度。

视频光学接触角测定仪(Contact Angle Analizer) 相位接触线来获得 接触角参数。 接触角模块显示了Multiskop型多功能组合式椭偏仪测量能力的自然拓展。 它使用了Mutiskop许多现成的硬件，例如图像采集卡，CCD相机，样品平台，计 算机等。附着气泡的外形轮廓用杨氏-拉普拉斯方程进行分析拟和。 ,仪器简介：接触角能够提供表面组成的重要信息。附着在固体表面的液滴的形状取决 于液体表面张力和重力的平衡状态。表面力使液滴形状趋向于球形，而重力则 使之变得扁平。可以通过分析附着在固体表面的液滴的三个

光谱椭偏仪 SpecEL-2000-VIS

椭圆偏振显微实时成像分析技术是在传统的消光（null）和离消光（off-null）椭圆偏振法基础上，结合数字处理技术发展出来的、旨在实时获取纳米尺度结构的表面或界面信息和纪录快速动力学过程的测量和,显示技术。 通过把椭圆偏振法与显微镜法相结合，椭偏光学成相系统保留了传统椭偏法对厚度测量具有高灵敏度的优点���并且具有测量面积大、取样速度快、横向分辨率高和结果直观等优点。其平面精度已经能够达到1μm，立体

本公司生产的椭偏仪适用于大学和科研院所，具有高精度和完整的测量功能。仪器的状态调整、参数设置、数据采集和处理，均通过计算机自动完成。从红外至紫外的宽广光谱区，波长连续可调，入射角度在20度到90度内连续可调。产品主要有两个系列: