.高精度回零椭圆光度法 2.的空间分辨率(1μm), 大面积图像椭圆光度法（多达若干cm2） 3.或多重的激光波长 4.的自动测角计，用于入射角调整n EP3View专用软件，用于仪器控制和基于Windows?的数据分析 5.关注区域及Δ，Ψ绘图n 可通过局部网络实现远程控制和服务

ME-L是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业前沿的**技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。可应用于半导体薄膜

自动椭圆偏振测厚仪 型号：XHPY-2仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高

SpecEl 椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。

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之间的相对位置。然后您可以现场直接采用不同的计算方法评估结果，例如*佳平面（以 0 为参考）和波度。还可以分析不同的参考点选择，设置偏移和容差值。FAC995孔对中仪螺旋轴对中仪 内径对中仪例如，新增了一项通过检查椭圆度来分析磨损率的功能。,FAC995孔对中仪螺旋轴对中仪 内径对中仪使轴承及轴颈的检查与对中更简便。大型彩色显示屏提供清晰的图像，软件指导用户逐步完成整个测量过程，这些都简化了用户的操作。系统会自动计算水平和垂直位置上轴颈

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组合式多功能椭偏仪