ROHS检测仪器，XRF检测仪直销，ROHS分析仪：铜成测试，金属材料光谱分析仪，涂层材料分析测试，古董检测仪器，测量金属含量的仪器，华唯Ux-230 X荧光光谱分析仪

XRF INNOV-X α-6500R 美国伊诺斯ROHS有害元素分析仪(Innov-X System)为目前世界上*专业的采用X荧光检测技术来对各种金属元素进行检测的仪器生产厂家，欧美地区市场占有率达70%以上，其中便携式伊诺斯,(Innov-X System)有害元素XRF分析仪是针对ROHS法令而专门开发，其检测限度完全能够满足ROHS法令的要求。其中欧美众多知名大厂，

技术指标分析精度：0.05%测量元素：从硫至铀，ROHS指令有害元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br的检出限...

X-RAY XUL 菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲,希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

COSMOS-2X 荧光X射线膜厚仪产品型号:COSMOS-2X 产品名称:萤光X线膜厚计 COSMOS-2X

X荧光光谱仪GX-300A 高鑫检测设备有限公司为您提供的GX-300A X荧光光谱仪根据能量色散 X 射线荧光分析法进行分析。

分 析 范 围: 1PPM-99.99% EDX-3600能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度**至0.005微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体

SD手持式X荧光光谱仪激发源：X射线管，Ag靶，40kV检测器：XFlash硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps　

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用

奥林巴斯 DELTA Element 手持式X射线荧光（XRF）分析仪,Olympus独具特色的牌号匹配信息（GMM）功能所提供的信息简化了核查与操作过程。用户可以将自行定制的信息分配给任何牌号，并可将实时或弹出信息作为立即分拣指示，从而提高了用户的工作效率。