COSMOS-2X 荧光X线膜厚计COSMOS-2X 规格表 1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。 2. 检出器：比例计数管。 3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。

美国伊诺斯公司是一家专业生产和制造通用型和高性能的手持X荧光光谱分析仪(XRF)的全球知名公司。

DX-320L是一款集RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的X荧光光谱仪。对铅、汞、镉、铬、溴、氯、砷、锑、硒、钡等元素有很好的检测下限以及精度。

X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用

ST-86LA 屏幕亮度计/亮度仪是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

X-RAY XAN? 150 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 150是一部多功能的能量分析光譜儀，特別適合用於非破壞樣品下測量鍍層的厚度及物料成份的測量。

X荧光光谱仪:原理：能量色散 X 射线荧光分析法 X荧光光谱仪根据能量色散 X 射线荧光分析法进行分析。