中国仪器仪表学会将于2009年7月在上海举办“第四期X射线荧光光谱分析技术与仪器”培训班。培训结束经考试合格，颁发中华人民共和国人事部监制的《继续教育证书》。同时，学员也可根据自身需要报考由质量技术监督行业职业技能鉴定指导中心统一颁发劳动和社会保障部颁发的初级，中级，**职业资格鉴定证书，经理论考试和技能操作鉴定考核合格者，即可获得相应级别的国家《职业资格证书》。

　　授课专家： 卓尚军研究员    陶光仪研究员（中国科学院上海硅酸盐研究所）

　　授课时间：2009年7月20日至24日（7月19日报到）        地点：上海

　　培训内容: 1.X射线荧光光谱分析基础；2. 仪器分类、结构、性能及仪器维护维修、定期检查和保养；3. X射线荧光光谱理论强度计算公式；4. 定性、半定量、定量分析及基体校正、不确定度评定；5.X射线荧光光谱薄膜和镀层分析；6.取样、制样及样品保管；7.化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用； 8.X射线荧光光谱玻璃熔融法分析样品的处理方法；9.X射线荧光光谱分析轻元素的处理方法；10. 电子、磁性材料、钢铁、非铁金属、化学工业、地质、窑业、矿业、水泥、石油、煤炭、环境等相关行业的实际应用；11.典型样品的分析方法介绍和讲解； 12. X射线荧光光谱仪器及分析技术的*新进展；13.上机答疑

　　培训费：1、每人1600元（包括授课费、讲义、文具、证书费等），食宿统一安排，费用自理。2、参加《职业资格证书》考试的学员，需再缴纳费用1600元/人（包括考试费，资料费，证书费，考前辅导费用等）。

　　报名方式：有意参加培训者请于2009年7月14日前将《报名回执表》填写后，传真、E-mail或邮寄到招生办公室。培训通知也可在中国仪器仪表学会网站上查看，网址：http://www.cis.org.cn。

　　联系电话：010-63979302/ 010-82800721                     

　　传  真:010-68343165

　　E-MAIL: training@cis.org.cn或x_training@163.com         

　　联系人: 刘继红  燕泽程