高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J WBLH-200J
产品简介
高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J测定范围:电磁式:0~800um或0~32.0mils 测定精度:<50um±1um >50um±2% 分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
产品详细信息
高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J | 货号:ZH6917 |
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