贵金属检测仪EDX-600

【性能指标】
可测元素： 硫(S)－铀(U)
同时可测元素： 36种
分析物质状态： 固态、粉末、液体
含量分析范围： 0.0002～100%
含量检出限： 2ppm
含量相对误差： 5～10%
分析 时 间： 60～300S
**可测镀层： *多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
**镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
**精    度：  *高可达0.01um
***小测量直径： 2mm

【技术参数】
探 测 器：进口Si-PIN半导体探测器，分辨率达149eV
X  光 管：钨（W）靶，*大电压50kV，*大电流1mA（靶材可定制）
          设计寿命长达5万小时
高压电源：精密X射线专用电源，*高输出电压50kV
          稳定度每8小时小于0.05%
滤 光 片：多组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准 直 器：直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换,免去人工操作烦恼
对焦系统：旋钮视觉对焦
样 品 腔：大气
样品观察：高清晰彩色CCD射线头
X 射  线：三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制），
          远远低于GB16355-1996防辐射标准
输入电压：AC 220V/50HZ
功    耗：260W
样 品 腔：490×320×118mm
外型尺寸：650×520×475mm
重    量：42Kg

【功能特点】
***采用进口的*新型探测器，对超低含量的元素都能探测；
***自动**的高压防护电路设计；
*****的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；
***专门黄金、铂金等贵重金属进行元素的优化，力量更精准；
***紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；
***灵活精准的分析软件，既可进行简单、快速的物质测试，满足工业化生产需求，也可通过科学的***参数配置满足复杂、高精度的元素分析；
**采用了国际*先进、复杂的X荧光分析算法，比任何同类软件都要适应各种复杂、多样的物质分析；
***对分析样品的状态、形状、大小自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。