多波长阿贝折射仪DR-M2 DR-M2
产品简介
多波长阿贝折射仪DR-M2折射指数或阿贝数(v d 或 v e)可依据450 至 1,100nm范围内的不同波长来衡量。能在液晶屏幕上数字显示折射指数与阿贝数。藉由边界线与相交线交叉点的比对进行测量。本折射仪能与数字打印机做连结(选购)
产品详细信息
多波长阿贝折射仪DR-M2详细介绍
折射指数或阿贝数(v d 或 v e)可依据450 至 1,100nm范围内的不同波长来衡量。
DR-M2能在液晶屏幕上数字显示折射指数与阿贝数。
藉由边界线与相交线交叉点的比对进行测量。本折射仪能与数字打印机DP-21 ( A )做连结(选购)。
测量范围 波长 450nm:折射指数1.3277 至 1.7379
波长 589nm: 折射指数1.3000 至 1.7100
波长 680nm: 折射指数1.2912 至 1.7011
波长 1,100nm: 折射指数1.2746 至 1.6843
*小显示单位 折射指數0.0001
阿贝数0.1
测量准确度 折射指數 ± 0.0002
阿贝数 ± 0.1
温度测量范围 5 至 50° C
尺寸重量 折射仪 13x29x31公分, 6.0公克
光源组件 15x33x11公分, 3.0公克