SGW X-4B显微熔点仪 SGW X-4B
产品简介
SGW X-4B显微熔点仪应用范围:测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
产品详细信息
应用范围:应用范围:测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定
【产品详情】
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
*小读数:0.1℃
测量重复性:±1℃(在<200℃时)
±2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调