TEM氮化硅窗口 SN
产品简介
透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口 与X射线用氮化硅窗口类似,TEM氮化硅窗口也采用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时RISUN也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 上海昭沅提供各种规格TEM氮化硅窗口。
产品详细信息
透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
TEM氮化硅窗口产品概述:
与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也采用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时RISUN也定制多孔氮化硅薄膜窗口。
RISUN透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗产品规格如下:
单窗口系列:
- 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:0.5 mm,薄膜厚度:30 nm)
- 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:50 nm)
2窗口系列:3mm(窗口尺寸:100x1500微米,薄膜厚度:20nm、40nm)
9窗口系列:3mm(窗口尺寸:100x100微米,100x350 微米,薄膜厚度:20nm、40nm)
边框厚度: 200µm、381µm。
Si3N4薄膜厚度: 9-15nm、50nm、100nm
Si3N4薄膜厚度: 9-15nm、50nm、100nm
本产品为一次性产品,RISUN不建议用户重复使用;本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。
TEM氮化硅窗口技术指标:
表面平整度:薄膜与其下的硅片同样平整,RISUN提供的TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为:0.6-2nm,完全适用于TEM表征。
亲水性:该窗格呈疏水性,如果样品取自水悬浮液,悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理,可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试,但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格,但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。
温度特性:RISUN提供的氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。
化学特性:RISUN提供的氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。
应用简介和优点:
1、适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。
2、大窗口尺寸,适合TEM大角度转动观察。
3、无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。
4、背景氮化硅无定形、无特征。
5、耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,(薄膜直接沉积在窗口上)。
6、生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。
7、耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。
8、适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。