通用LCR测量仪AN2811 AN2811
产品简介
艾诺系列LCR测量仪,采用16位微处理器为测量、控制核心,测量快速准确。**VFD显示技术的应用,满足了用户多参数显示和多条件显示的要求,清晰美观。仪表的多条件记忆、开机呼出功能,配合简洁的面板操作,使你轻松完成繁杂的测量。系列测量仪可广泛应用于电子元器件的制造、检验、使用单位和院校、研究所、实验室等部门,作为元件质量分类、检定、检验,以及参数分析的可靠工具
产品详细信息
型号 | AN2811 |
测量参数 | L/Q C/D R/Q Z/Q |
测试频率 | 100 120 1K 10K |
测试电平 | 0.1V 0.3V 1.0V |
测量精度 | 0.2% |
测量范围 | L:0.01uH~9999H |
C:0.01pF~9999uF | |
R/Z:0.1mΩ~99.99MΩ | |
Q:0.0001~9999.9 | |
D:0.0001~9.9999 | |
测量速度 | 10次/秒 |
等效方式 | 串联/并联/自动 |
量程方式 | 锁定/自动 |
触发方式 | 内部/手动/外部 |
显示方式 | D ΔABC Δ%,4位VFD |
平均次数 | N |
校准功能 | 开路/短路 |
分选功能 | 10组记忆,主参4档、副参不合格分选 |
直流偏置 | N |
测量端口 | 5端 |
对外接口 | RS-232、HANDLER、PRINTER |