XRF镀层测厚仪 X-STRATA980

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产品型号：X-STRATA980

品牌：其它品牌

公司名称：三翔分析仪器

所在地：广东深圳

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产品简介

XRF镀层测厚仪，结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

产品详细信息

XRF镀层测厚仪 应用:

--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量

产品特点:  XRF镀层测厚仪
--100瓦X射线管
--25mm2PIN 探测器
--多准直器配置
--扫描分析及元素分布成像功能
--超大样品舱
--同时分析元素含量和镀层厚度

技术参数:
--元素范围:S(16) to U(92)
--可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份
--X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管
--探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器
--滤波器/准直器:*多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø)
--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
--电脑/显示器/系统软件
  Celeron, 1.86 GHz,  40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
  15”LCD, 1024 x 768
  MicrosoftTM XP SP2
--摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
--电源:85~130V&nbs******bsp;215~265 V, 频率47Hz to 63Hz
--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
--XYZ轴行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
--*大样品尺寸
  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为  50mm (2”)
  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)
--舱室尺寸:   (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
--外型尺寸
  高765mm (30.1”)
  宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
  深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended
--重量: 135 kg