TT280A膜厚计 TT280A
产品简介
TT280A膜厚计是一款铝合金外壳的膜厚计,TT280A膜厚计可以根据客户需要配不同的探头达到不同的膜厚测量效果,TT280A膜厚计携带方便还可以存储数据,TT280A膜厚计是生产和工作的好帮手,使用了全金属外壳结构,更加坚固耐用,测值精准稳定,价格经济实惠!
产品详细信息
TT280A膜厚计简单介绍:
TT280A膜厚计使用了全金属外壳结构,更加坚固耐用,测值精准稳定,价格经济实惠!
TT280A膜厚计符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
TT280A膜厚计符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT280A膜厚计特点:
采用了磁性和涡流两种测厚方法,TT280A膜厚计即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
可使用10种测头(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10);
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能:可存贮495个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
具有电源欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
TT280A膜厚计原理:
TT280A膜厚计采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型测头)
当TT280A膜厚计测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
b) 涡流法(N型测头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
TT280A涂层测厚仪技术参数表:
测头型号
|
F400
|
F1
|
F1/90°
|
F5
|
F10
|
||||
工作原理
|
磁 感 应
|
||||||||
测量范围(um)
|
0~400
|
0~1250
|
0~5000
|
0~10000
|
|||||
低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
|||||
示值
误差
|
一点校准(um)
|
±(3%H+1)
|
±(3%H+5)
|
±(3%H+10)
|
|||||
二点校准(um)
|
±((1~3)%H+0.7)
|
±((1~3)%H+1)
|
±((1~3)%H+5)
|
±((1~3)%H+10)
|
|||||
测
试
条
件
|
*小曲率半径(mm)
|
凸
|
1
|
1.5
|
平直
|
5
|
10
|
||
*小面积的直径(mm)
|
F3
|
F7
|
F7
|
F20
|
F40
|
||||
基体临界厚度(mm)
|
0.2
|
0.5
|
0.5
|
1
|
2
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
测头型号
|
N400
|
N1
|
N1/90°
|
CN02
|
N10
|
|||||
工作原理
|
涡 流
|
|||||||||
测量范围(um)
|
0~400
|
0~1250
|
10~200
|
0~10000
|
||||||
低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
||||||
示
值
误差
|
一点校准(um)
|
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+1)
|
±(3%H+25)
|
|||||
二点校准(um)
|
±[(1~3%H+0.7)
|
±[(1~3)%H+1.5]
|
___
|
±((1~3)%H+25)
|
||||||
测
试
条
件
|
*小曲率半径(mm)
|
凸
|
1.5
|
3
|
平直
|
仅为平直
|
25
|
|||
*小面积的直径(mm)
|
F4
|
F5
|
F5
|
F7
|
F50
|
|||||
基体临界厚度(mm)
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
无限制
|
5mm铝箔
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
注:H——标称值
附表2 TT280A膜厚计测头选用参考表
覆盖层
基体 |
有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、
塑料和阳极化处理等)
|
||
覆盖层厚度不超过100um
|
覆盖层厚度超过100um
|
||
如铁、钢等磁性金属
|
(平面测量时)被测面积的直径大于30mm
|
F400型测头 0~400um
F1型测头 0~1250um
|
F1型测头 0~1250um
F5型测头 0~5mm
F10型测头 0~10mm
|
被测面积的直径
小于30mm
|
F400型测头 0~400um
|
F1型测头 0~1250um
F400型测头 0~400um
|
|
如铜 、铝、黄铜、锌、锡等有色金属
|
被测面积的直径
大于10mm
|
N400型测头 0~400um
|
N400型测头 0~400um
N10型测头 0~10mm
|
被测面积的直径
小于10mm
|
N400型测头 0~400um
|
N1型测头 0~1250um
N400型测头 0~400um
|
测头选用参考表(续表)
覆盖层
基体 |
非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
|
||
覆盖层厚度不超过100um
|
覆盖层厚度超过100um
|
||
如铁、钢等磁性金属
|
(平面测量时)被测面积的直径大于30mm
|
F400型测头 0~400um
|
F400型测头 0~400um
F1型测头 0~1250um
F5型测头 0~5mm
F10型测头 0~10mm
|
被测面积的直径
小于30mm
|
F400型测头 0~400um
F1型测头 0~1250um
|
F400型测头 0~400µm
F1型测头 0~1250um
|
|
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属
|
被测面积的直径
大于10mm
|
仅用于铜上镀铬
N400型测头 0~40um
|
--------
|
|
--------
|
--------
|
|
塑料、印刷线路非金属基体
|
被测面积大于7mm
|
CN200型测头10~200um
|
CN200型测头10~200um
|
TT280A膜厚计基本配置:(特殊探头的选配请参照:选配探头参数)
TT280A主机 1台
F1或N1测头 1支
校准标准片 1套
电池 2个
手提密码箱 1个 合格证,保修卡,说明书等文字资料
通讯电缆 1个 软件 1个
TT280A主机 1台
F1或N1测头 1支
校准标准片 1套
电池 2个
手提密码箱 1个 合格证,保修卡,说明书等文字资料
通讯电缆 1个 软件 1个
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邮编:
电话:
手机:/
传真:86-10—62894746
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