数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 HAD-CH-12.7-STSX
产品简介
数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:HAD-CH-12.7-STSX 分度值:0.001mm 测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm 适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*测量深度为80mm) GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
产品详细信息
数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:HAD-CH-12.7-STSX
分度值:0.001mm
测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*测量深度为80mm)
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979