QC检验硫标 用于XRF

QC检验硫标 Sulfur QC Check Monitor
用于XRF
在分析表面光学抛光；规格为30-40mm直径和5mm高度。

QC检验硫标 Sulfur QC Check Monitor
用于 XRF
QC检验硫标
用于XRF-硅酸盐玻璃分析的监测样品。在分析表面光学抛光; 规格为30-40mm直径和5mm高度。

高含量硫约为0.70wt% （SGL-Hl）
低含量硫约为0.005wt% （SGL-LO）
中含量硫约为0.050wt% （SGL-MD）
如需其他QC检验标准，请来电咨询。

用于生产标准参考物质的原材料经过混合，挤压和颗粒化等过程来实现，目的是形成材料的高度同质化，从而压成片状。每套标准物质附带有COA证书，标有真实的元素浓度和由ICP-MS, NAA, ICP-AES和 CV-AAS所决定的不确定性。这套PEE discs提供了很大浓度范围内的良好的质地均匀性，准确性和精密性。