SF200**继电器单元(PLC I/O单元型) SF200(PLC I/O单元型)
产品简介
SF200**继电器单元(PLC I/O单元型)欧姆龙PLC的I/O单元型**继电器单元,实现省空间、省布线 ·欧姆龙PLC CQM1H、CS1的I/O单元型 ·实现省布线和省空间 ·**电路的电源和输出,内部继电器的监视功能 ·具有4点/公用的通用输入 ·取得欧洲EN标准、TUV认证
产品详细信息
SF200**继电器单元(PLC I/O单元型)
额定值(**电路部)
●电源部
●输入部
●开闭部
■额定值(通用输入部)
■性能
*1. 测定条件:根据DC5V 1A 电压降法。
*2. 包括反弹时间。
*3. 响应时间是指输入为OFF后到主接点为OFF时的时间。
*4. 安装在PLC本体的状态下测定。
额定值(**电路部)
●电源部
项目 型号 | CQM1-SF200 | CS1W-SF200 |
电源电压 | DC24V | |
容许电压变动范围 | 电源电压的-15% +10% | |
消耗功率 | DC24V:1.7W以下 |
项目 型号 | CQM1-SF200 | CS1W-SF200 |
输入电流 | 75mA以下 |
型号 项目 负载 |
CQM1-SF200、CS1W-SF200 | |
电阻负载 | 感性负载 | |
额定负载 | AC250V 5A DC30V 5A | AC15:AC240V 2A(cosφ=0.3) DC13:DC24V 1A(L/R=48ms) |
额定负载 | 5A | 5A |
项目 型号 | CQM1-SF200 | CS1W-SF200 |
电源电压 | DC24V | |
容许电压变动范围 | 电源电压的-15% +10% | |
输入阻抗 | 4.0kΩ | 3.3kΩ |
输入电流 | 6mA typ.(DC24V) | 7mA typ.(DC24V) |
ON电压/ON电流 | DC14.4V以上/3mA以上 | |
OFF电压/OFF电流 | DC5V以下/1mA以下 | |
ON/OFF响应时间 | 8ms以下(根据PC系统设定,在(1~128ms)中可切换) | 8ms以下(根据PC系统设定,在(0~32ms)中可切换) |
电路数 | 4点/公共 | |
同时ON点数 | 100%同时ON | |
内部消耗电流 | 50mA以下 | 100mA以下 |
项目 型号 | CQM1-SF200 | CS1W-SF200 | |
接触电阻 *1 | 100mΩ | ||
动作时间 *2 | 30ms以下 | ||
响应时间 *2 *3 | 10ms以下 | ||
绝缘电阻 *4 | **电路总体和**输出之间:20MΩ以上(用DC500V兆欧表) 通用输入部总体和**输出之间 :20MΩ以上(用DC500V兆欧表) **输出异极之间 :20MΩ以上(用DC500V兆欧表) **电路总体和通用输入部总体之间 :20MΩ以上(用DC500V兆欧表) | ||
耐电压 *4 | **电路总体和**输出之间 :AC2,500V 50/60Hz 1分钟 通用输入部总体和**输出之间 :AC2,500V 50/60Hz 1分钟 **输出异极之间 :AC2,500V 50/60Hz 1分钟 **电路总体和通用输入部总体之间 :AC500V 50/60Hz 1分钟 | ||
耐振动 * 4 | 根据JIS C0911标准10~57Hz 振幅0.075mm 57~150Hz 加速度9.8m/s2 X、Y、Z各方向80分钟 (扫描时间8分钟×扫描次数10次=合计80分钟) | 根据JIS C004010~57Hz 振幅0.075mm、 57~150Hz 加速度9.8m/ s2 X、Y、Z各方向 80分钟 (扫描时间8分钟×扫描次数10次=合计80分钟) (DIN导轨安装时2~55Hz 2.94m/s2 X、Y、Z各方向 20分钟) | |
耐冲击 *4 | 根据JIS C0912标准, 147m/s2 X、Y、Z各方向3次 | 根据JIS C0041标准, 147m/ s2 X、Y、Z各方向 3次 | |
耐久性 | 机械的 | 500万次以上(开闭频度7,200次/h) | |
电气的 | 10万次以上(额定负载、开闭频度1,800次/h) | ||
故障率P水准(参考值) | DC5V 1mA | ||
使用环境温度 *4 | 0~+55℃ | ||
使用环境湿度 *4 | 10~90%RH(不应结露) | ||
使用环境*4 | 无腐蚀性气体 | ||
保存环境温度 *4 | -20~+75℃ | ||
构造 | 柜内安装 | ||
质量 | 约260g | 约300g |
*2. 包括反弹时间。
*3. 响应时间是指输入为OFF后到主接点为OFF时的时间。
*4. 安装在PLC本体的状态下测定。