Felles 半导体结温测量仪 micro IR

Felles 半导体结温测量仪专门为微电子研发和制造而设计，Felles 半导体结温测量仪可探测热点和缺陷、电子元件和电路板故障诊断、测量结温、甄别芯片键合缺陷、测量热阻封装、确立热设计规则。

Felles 半导体结温测量仪专门为微电子研发和制造而设计，Felles 半导体结温测量仪可探测热点和缺陷、电子元件和电路板故障诊断、测量结温、甄别芯片键合缺陷、测量热阻封装、确立热设计规则。
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Felles 半导体结温测量仪应用   
*用于半导体IC裸芯片热检测 
*探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障 
*探测并找到元件和电路板上缺陷   
*测量半导体结点温度（结温）
*辨别固晶/焊线/点胶缺陷
*测量封装热阻 
*确立热设计规则  
*激光二极管性能和失效分析
*MEMS热成像分析
*光纤光学热成像检测
*红外显微镜,热成像显微镜半导体气体传感器的热分析 
*测量微交换器的热传输效率 
*微反应器的热成像测量
*微激励器的温度测量
*生物标本温度分析 
*材料的热性能检测
*热流体分析