数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪H18335 H18335
产品简介
数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪H18335 分度值:0.001mm 测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm 适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*测量深度为80mm) GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
产品详细信息
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分度值:0.001mm
测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(*测量深度为80mm)
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
北京恒奥德仪器仪表有限公司
联系人:经理
联系电话:/ /
传真:
旺旺: hadgs、had200911
QQ:、、2272048995、
、2247962207
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