荧光材料量子产率测量 Chame-Fluo
产品简介
荧光材料量子产率测量;荧光材料分析系统(仪)是专业LED 光色测量设备,非破坏性检测,可直接对LED荧光特性分析,独立荧光胶色彩定量分析,荧光胶体浓度变化定量分析。
产品详细信息
Chame-Fluo荧光材料快速分析系统
功能特点:1.荧光粉来料检验:管控进料荧光粉发光效率的一致性,从原料端确保白光LED的光色的一致性
2.生产过程控制:测量荧光胶饼、COB胶条的荧光强度来判定其浓度的高低,从制程上控制光色一致
3.COB铝基板漫反射率检测,提高白光效率
4.白光LED调色数字化:荧光粉配比分析,提供蓝光与荧光组合四则运算,建立荧光粉资料库
5.光色参数预判,为成品提供*终的光色模型
功能特点:1.荧光粉来料检验:管控进料荧光粉发光效率的一致性,从原料端确保白光LED的光色的一致性
2.生产过程控制:测量荧光胶饼、COB胶条的荧光强度来判定其浓度的高低,从制程上控制光色一致
3.COB铝基板漫反射率检测,提高白光效率
4.白光LED调色数字化:荧光粉配比分析,提供蓝光与荧光组合四则运算,建立荧光粉资料库
5.光色参数预判,为成品提供*终的光色模型
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■ 荧光分析系统:精巧、高速、定量精准稳定性高

■ 系统规格:
Excitation Source
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Wavelength Range :
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465nm, peak wavelength
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Spectrum Bandwidth :
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20nm, FWHM
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Radiant Power :
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550mW @ 700mA
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Power Stability :
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1%FS @ 30 min
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Temp. Stability :
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25 +/- 0.5 °C
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Spot Size :
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3 ~ 20 mm
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Spectroradiometer
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Spectral Range :
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380 ~ 780nm
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Measurement Items :
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Lm;W;x/y;ld;lp;lc;FWHM;CCT;CRI
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Spectral Resolution :
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1 nm
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Accuracy
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ld:+/- 1nm;x/y : 0.005 ( std lamp )
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Sentivity Range :
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20mlm ~ 200 lm
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Repeativity :
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ld : +/- 0.3nm ; x/y : 0.002 ( std lamp )
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System
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Sphere Diameter. :
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100mm
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Sphere Port Size :
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30mm
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Measurement Time :
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< 1000ms
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Dimension ( LxWxH) :
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414 x 243 x 225 mm
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Weight :
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~ 15 Kg
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Power Required
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110~240 V ; 50~60 Hz
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■ 测试应用:原材料~成品组件荧光分析

■ 测试应用:原材料~成品组件萤光分析

■ 萤光分析:定性分析VS.定量分析


■ 特性分析:蓝光吸收VS.能量转换

■色彩计算:定量模拟、精准快速
