Felles X射线薄膜衍射仪 XRD

Felles X射线薄膜衍射仪与其它采用“机械扫描测角仪器”的X射线衍射仪不同，Felles X射线薄膜衍射仪采用独特的具有**技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。

Felles X射线薄膜衍射仪与其它采用“机械扫描测角仪器”的X射线衍射仪不同，Felles X射线薄膜衍射仪采用独特的具有**技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。

Felles X射线薄膜衍射仪特点

具有X射线衍射，材料纹理组织, 材料质地,薄膜，单晶，薄膜应力测量，外延，反射，掠入射等多用途多功能**X射线衍射仪，

是多用途多功能X射线衍射仪中的翘楚，

具有多种样品测量模式和多用户分析技术，

使用*新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，

以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型，

具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究，

国**的进口X射线衍射仪旗舰型服务商！

Web: www.felles.cn                    （激光光学精密仪器网）
          www.f-lab.cn                       （分析测试实验仪器网）

http://www.f-lab.cn/analytical-instruments.html

http://www.f-lab.cn/particle-analyzers.html

Felles X射线薄膜衍射仪特色

作为**衍射仪，适合所有类型的反射测量，

所配备的高精度Eulerian cradle可用于质地（texture)和极图（pole figure)的实时测量。

提供宽广的角范围phi旋转，

可加多轴位移台用于薄层测量。使用500mm曲率半径的实时弧形探测器，非常适合如下研究：

薄层分析，反射，微衍射，omega扫描残余应力分析，质地&极图测量等应用。可测的样品尺寸小到20微米。
具有丰富的样品安装配件，包括sample spinner, auto sampler, humidity chamber, variable temperature mounts, furnace, think film accessories, stress attachements, WAXS wide angle scattering options等等。


X射线薄膜衍射仪 产品特色
* 适合**科研应用
*不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本。
* 操作简单，非常可靠，无比精密
* 取消了机械扫描式的测角仪器，使用高灵敏度弧型X射线探测器
* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；
* 超大样品室，大型**防护装置
* 实时测量实时分析结果；

* 超高分辨率：0.05FWHM;

Felles X射线薄膜衍射仪概述

操作情况：
不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高**性测量。
使用成本：
由于使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。
先进的Equinox技术：
与其它X射线薄膜衍射仪相比，测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。
超大样品室：
由于替代了测角仪，以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。
微样品尺寸：
可以测量任何尺寸的样品，而其他的一般完成分析测量的样品*大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的微X射线源。

高通量多层镜：
不使用旋转的阴极X-ray源用于高速衍射测量，而是使用独特的镜面技术提供X20增强型X射线能量密度，效果等同于旋转的X-ray源，但是在可靠性上大大提高，采集速度大大加快，价格降低。

X射线**性：
对样品的尺寸无要求，因此X射线**性显著提高，传统的薄膜应力X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的**防护装置和X射线窗口，但是整体的**性依然得不到严格保证。

新型高通量X射线源备选：
我们研发了新型的高通量60KV空气制冷的X-ray源，具有超高X-ray强度但不需要水冷。这个50W功率的X-ray源可提供与传统的2500W X射线管相媲美的强度。

不再需要水冷
该薄膜X射线衍射仪使用高通量空气质量的X射线管，不需要水冷。

超低电力消耗
这款X射线薄膜应力衍射仪仅仅需要100W的功率消耗，而普通至少是2KW。

透射和反射测量
透射和反射可同时测量，可以X射线几何线测量

薄膜测量
Equinox实时薄膜附件可用于高分辨率薄膜测量。

拉曼测量
这款薄膜X射线衍射仪提供超大的样品室空间，我们的拉曼探针可以直接安装到样品室内，可对样品进行分子级别的分析。拉曼探针也可从样品室中移除。

EDXRF功能
可选配EDXRF光谱仪植入X-射线衍射仪样品室内，也可作为单独的一个仪器使用。

30位自动采样器 可是满足30个样品自动测量

单晶/粉末衍射功能：这套X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。

矿产和冶金特殊应用： 该薄膜应力X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它**的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。

Felles X射线薄膜衍射仪技术参数：
分辨率： 0.05度 FWHM
探测器曲率半径：500mm
2 theta：90度
角范围：180度，2 theta
X射线高压电源： 60KV/3KW电源
水源要求：循环水3.5L/min
重量： 280Kg

可选附件：
拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。