比表面积及孔径分析仪 JW-K

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产品型号：JW-K

品牌：

公司名称：北京精微高博科技开发中心

所在地：北京东城

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产品简介

）       采用氮吸附方法，在一台仪器中实现更多的测试功能：

Ⅰ、直接对比法快速测定比表面积；

Ⅱ、BET法测定比表面积；

Ⅲ、全程测定氮吸附或脱附等温曲线；

Ⅳ、测定超细粉体材料表面的孔径分布（孔隙率），包括体积分布、表面积分布，孔隙的总体积、总面积及平均孔径；

产品详细信息

JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

一、技术参数
测量原理：    动态常压连续氮吸附法（国内**）
气体：        高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%）
气体流量：    ≤100mL/min
流量控制：    稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1%
测量压力：    常压
氮气相对压力：调节范围 0.05-0.98
主机功能：   （1）吸（脱）附等温曲线测定
             （2）孔径分布测定
             （3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值
             （4）比表面快速测定（直接对比法）
测定范围：   （1）孔径：2nm～200nm           (2) 比表面：0.1~3500㎡/g
测量重复精度：≤±3%
测试时间：   （1）BET比表面：平均每个样品30分钟
             （2）孔径分布：平均每个样品3～4小时
             （3）数据采集：恒流电路，气体浓度传感器工作站，放大及滤除杂波系统，采集速度100次/秒。

二、产品特点
a)   采用氮吸附方法，在一台仪器中实现更多的测试功能；
b)   动态法对测试过程十分直观，可以看到不同氮分压条件下，氮吸附和脱附的全过程；
c)   采用了*先进的技术，从压力到流量实现氮气分压从0至100%的全程**控制，孔径测试范围可从2nm至200nm；
d)   气路系统的巧妙设计，无须任何复杂的程序即可实现各种测量方法和功能的选择。
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