Analyst高通量筛选分析检测系统 Analyst AD/HT/GT
产品简介
高通量筛选平台,支持荧光强度检测,荧光共振能量转移测定,高效偏正荧光检测,时间分辨荧光检测,冷光检测(Glow),紫外可见光检测,并支持双波长(two-wavelength assays)和双检测模式(two-mode assays)同时进行。可与全自动加样机等全自动设备(如Beckman Coulter, Zymark, CRS 和Robocon.)兼容,每天可以进行70,000个样品的筛选。每
产品详细信息
迄今为止*具弹性,不妥协达工业级强度,多型式分析,可结合自动化工作站的高通量
筛选检测系统。
Analyst HT 支持以下分析检测:
萤光强度检测
高效偏正萤光检测
时间分辨萤光检测
冷光检测
紫外可见光检测
Analyst HT 亦支持双波长(two-wavelength assays)和双检测模式(two-mode assays)同时
进行。
不妥协的表现:
见于每一检测模式对灵敏度,动力范围信噪比,杂光干扰等要求都是*严苛的。配有具
**的SmarttOptics system 和 特制的HE microplate仅用传统96孔板十分之一的样品装载量就可达到相同的检测效果。
与自动化设备相结合或单独当工作站用:
配有多套接口连结端口可很容易的和自动化设备相结合, Analyst HT在世界各地高通量筛选的实验室已被证实的记录是**能筛选7万个样品。
规格:
萤光强度检测: 灯型 – Xenon ( arc/flash)
波长 - 400-740nm (arc) / 250-740nm (flash)
检测极限 - < 5pM fluorescence
高效偏正萤光检测: 灯型 – Xenon arc
波长 - 400-740nm
检测极限 - <10mP SD at 100 pM Fluorescence
时间分辨萤光检测: 灯型 – Xenon flash
波长 – 250-740nm
检测极限 - <100 fM europium
冷光检测: 波长 – 450-600nm
杂光干扰 - <2%
检测极限 - <10,000 photons/sec
紫外可见光检测: 灯型 – Xenon (arc/flash)
波长 – 400-740nm (arc) / 250-900nm (flash)
线性 – 2.0 ±0.05 OD
尺寸: 长: 64.8cm
宽: 52.1cm
高: 60.9cm
重: 66.7kg
筛选检测系统。
Analyst HT 支持以下分析检测:
萤光强度检测
高效偏正萤光检测
时间分辨萤光检测
冷光检测
紫外可见光检测
Analyst HT 亦支持双波长(two-wavelength assays)和双检测模式(two-mode assays)同时
进行。
不妥协的表现:
见于每一检测模式对灵敏度,动力范围信噪比,杂光干扰等要求都是*严苛的。配有具
**的SmarttOptics system 和 特制的HE microplate仅用传统96孔板十分之一的样品装载量就可达到相同的检测效果。
与自动化设备相结合或单独当工作站用:
配有多套接口连结端口可很容易的和自动化设备相结合, Analyst HT在世界各地高通量筛选的实验室已被证实的记录是**能筛选7万个样品。
规格:
萤光强度检测: 灯型 – Xenon ( arc/flash)
波长 - 400-740nm (arc) / 250-740nm (flash)
检测极限 - < 5pM fluorescence
高效偏正萤光检测: 灯型 – Xenon arc
波长 - 400-740nm
检测极限 - <10mP SD at 100 pM Fluorescence
时间分辨萤光检测: 灯型 – Xenon flash
波长 – 250-740nm
检测极限 - <100 fM europium
冷光检测: 波长 – 450-600nm
杂光干扰 - <2%
检测极限 - <10,000 photons/sec
紫外可见光检测: 灯型 – Xenon (arc/flash)
波长 – 400-740nm (arc) / 250-900nm (flash)
线性 – 2.0 ±0.05 OD
尺寸: 长: 64.8cm
宽: 52.1cm
高: 60.9cm
重: 66.7kg