上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT SHXH-4030JVT
产品简介
上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT 测量软体 YR-VT(可实现Z轴**测量和平面度测量) 升降立柱 花岗石立柱 仪器基座 000级高稳定性花岗石底座 照明 上光源采用同轴光照明 下光源采用LED无影灯
产品详细信息
上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT仪器用途:
该仪器适用于以二维坐标测量为目标的,用于LCD、LED、IC芯片需要同轴金相量测等行业。
上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT仪器特点:
强大的YR-VT测量软件,可实现所有二维平面测量功能,还具备拍地图、产品轮廓扫描、专业SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。Z轴升降采用大理石柱,可实现Z非接触式**测量和平面度测量。
上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT仪器简介:
●高精度大理石底座、立柱,工作台面保证拥有极高的稳定性及刚性。
●精密摩擦传动、灵敏可靠、并可快速传动。
●三层工作台设计,精密级V型导轨,保证拥有极高的机械精度。
●高品质光学系统和高分辨率CCD,确保拥有高品质的测量画面。
●四环八区LED环形表面冷光源及轮廓光源,避免工件发热产生变形。多角度多区灯,保证让工件在不同角度有不同效果。
●精密光学尺,分辨率为0.001mm。
●可选配英国Renishaw接触式探头。
●自主研发YR-VT影像测量软件、功能强大、操作简便。
●应用行业:PCB、LCD、TFT框架等行业。
上海贤豪2.5次元测量仪SHXH-4030JVT规格参数:
仪器型号 |
SHXH-2010JVT |
SHXH-3020JVT |
SHXH-4030JVT |
SHXH-5040JVT |
量测行程 |
200*100*220mm(X.Y.Z) |
300*200*220mm(X.Y.Z) |
400*300*220mm(X.Y.Z) |
500*400*220mm(X.Y.Z) |
X.Y.Z*小显示值 |
0.001mm |
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测量精度 |
X.Y Axis:(3+L/200)μm |
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重复性精度 |
3μm |
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测量方式 |
影像式 |
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影像放大倍率 |
96~624X(可扩展至120~1560X) |
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CCD |
43万像素彩色高清晰度摄影机(SONY芯片) |
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镜头 |
高清晰度0.7~4.5Xzoom同轴光变焦镜头 |
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工作距离 |
20mm(影像) |
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电脑 |
品牌电脑 |
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测量软体 |
YR-VT(可实现Z轴**测量和平面度测量) |
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升降立柱 |
花岗石立柱 |
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仪器基座 |
000级高稳定性花岗石底座 |
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照明 |
上光源采用同轴光照明 下光源采用LED无影灯 |
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外观尺寸 |
500*550*950mm |
700*650*950mm |
980*750*950mm |
1050*800*950mm |
仪器重量 |
175kg |
180kg |
300kg |
500kg |
选购件 |
金相物镜 5X、10X |