原子力显微镜 ZNA-200
产品简介
主要应用于材料表面的观测和研究,包括表面粗糙度、表面结构、颗粒大小、表面缺陷等。 适用于高等学校、研究所等单位使用。
产品详细信息
AFM探头:
样品尺寸:≤Φ15mm 样品厚度:≤5mm
XY*大扫描范围:标准配置6μm×6μm
可选3μm×3μm、10μm×10μm、20μm×20μm、50μm×50μm
X、Y向分辨力:0.4nm Z向分辨力:0.05nm X、Y二维样品移动范围:5mm
步进马达自动进行针尖-样品逼近,带高分辨CCD观察显微系统。
扫描隧道显微镜、原子力显微镜等光学纳米仪器。
更多型号和技术参数,请参看我公司网站。
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