显微熔点仪 熔点仪 had-SGW X-4B
产品简介
显微熔点仪 熔点仪 型号：had-SGW X-4B 点： 测定物质的熔点。主要用于**、化、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
产品详细信息
显微熔点仪 熔点仪 型号：HAD-SGW X-4B
点：
测定物质的熔点。主要用于**、化、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 320℃ 时）
温度显示*小值：0.1℃
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X-4 |
X |
X-4B |
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温度显示*小值 |
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熔点观察方式 |
单目显微镜 |
单目显微镜 |
双目体视显微镜 |
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光学放大倍数 |
40× |
40× |
40×-100×连续变倍 |
北京恒奥德仪器仪表有限公司
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