根系测定仪，根检测仪，根系分析仪；根系图像分析系统 LA-90

二、 原理：
　　LA-90利用高质量图形扫描系统提供高分辨率的彩**像或黑白图像，该扫描系统匹配专门的双光源照明系统，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图像的质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等参量，LA-90可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。

四、 基本技术指标：

植物根系可分析测量：

1)根总长；

2)根平均直径；

3)根总面积；

4)根总体积；

5)根尖计数；

6)分叉计数；

7)交叠计数；

8)根直径等级分布参数。

9）分辨精度：0.05mm²；

10）测量总时间：60秒。

匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG标准格式的图像。

五、 产地：
　　上海SINTEK