X荧光光谱仪

1. 测定原理  X射线荧光分析法

2. 测定方法 能量色散型

3. 测定对象 固体、液体、粉状

4. 测定范围 13Al -92U

5.样品室尺寸 *大W370mm×D320mm×H155mm

6. 制冷方式  电子制冷

7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换

8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析

●利用“筛选分析”画面，操作简单方便

●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理

●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能

●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品

●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到*小程度

●配备保护功能，限制条件或数据的变更

●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义