元件测量仪 DB236
产品简介
DB236元件测量仪是专门为钽电容和铝电解电容器进行手动或自动高精度、高速测试而设计的。仪表可靠性高,使用方便,能方便的安装于生产线、质量控制部门及有关实验室 DB236能在4个标准频率下进行容量和损耗系数的测试。也能进行任何组合的双频测试。用户也可设置一个测试顺序以方便双频和多频测试,使其更快捷。 为规范起见,该仪表内置装有进行偏差测试的比测仪、IEEE488(GPIB)和R
产品详细信息
特点:
l 4测量频率:100kHz,10kHz,1kHz和100Hz(120Hz)。
l 一般精度在0.05%(C和Z)以内;损耗因素测量精度为2´10-4 。等效串联电阻(ESR)0.1MW
l 专门为钽电容和电解电容器设计,以及其它CLR应用。
l 内置触点检查功能。
l 高测试速度:从触发到测量结束,按频率不同只需20-180ms。无触发延迟
l 可同时在100Hz(120Hz)下测试电容值,在100KHz下测Z值
l 输入保护:4焦耳可达1KV。
l 测试范围:按频率不同从0.1pF到3mF。
l 测量可达3mF(1%)@100kHz。
l 外部电缆的长度为2.0m或78.6英寸
l 测试电缆:标准电缆1.0m或39.3英寸
l 内部偏压:步程设为0.1V, 发电端子上可达 ±3V DC。
l 外部偏压:可达±48VDC
l 读数显示:显示直接或偏差的容量、损耗测试的损耗角或ESR值,以及L/Q、Rs、Rp,Z值。
详细说明
测试参数:C,L,R Z,(串联或并联) ESR L/Q RS RP Z
测试频率:用多种频率装置在100KHz, 10KHz, 1KHz,100Hz 测试。
测试电压 |
1V RMS - 100mF 在 100Hz |
1V RMS - 10mF 在 1KHz | |
1V RMS - 1mF 在 10KHz | |
1V RMS – 0.1mF 在 100KHz | |
上述中:线路直度有利于减少阻抗(步程0.1V,*大1.5V RMS) 操作步程0.1V (*大1.5V RMS) |
测试速度: |
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100Hz |
(120Hz) |
1KHz |
10KHz |
100KHz |
180ms |
150ms |
20ms |
20ms |
20ms | ||
从触发到数据显示 |
190ms |
160ms |
28ms |
28ms |
28ms | |
每种方式的额外时间(平均) |
160ms |
135ms |
16ms |
16ms |
16ms | |
允许3ms接触反弹或1幅度变化 | ||||||
平均复合测试速度:各测试时间之和(从触发到测试结束为准计)+ 8ms 运算时间 |
测试电缆: 由Danbridge提供从仪表到测试夹具的1m(39.3英寸)电缆。
输入保护: 2焦耳*大到1KV,或4mF充电1000V。
内部偏压: 发电端口*高达±3.0V DC,设计步程0.1V(内部发电)。
外部偏压: 可达±48VDC
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频率 |
100Hz |
1KHz |
精度±1 容量 损耗角 |
精 度 C & tan D |
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300pF- 3.9nF 3nF- 30mF 30mF- 300mF 300mF- 3mF |
10pF- 390pF 400pF- 3.9mF 4mF- 399mF 400mF- 1mF |
0.5% ±,0010 0.05% ±,0002 0.1% ±,0007 0.1% ±,0010 1% ±,0020 |
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10KHz |
100KHz |
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39pF- 3.9uF 4uF- 39uF 4mF- 39mF 40mF- 400mF |
3.9pF- ,9pF 1mF- 9mF 10mF- 40mF |
0.05% ±,0002 0.1% ±,0007 0.2% ±,0010 1% ±,0020 |
Z 精度 |
ESR =TanD/(2p f Cs)
Zc = 1/(2 p f c) |
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分选料箱: 用光藕合器,**参数12个限定,**参数4个限定
接口: 后面板: IEEE 488(GPIB)和RS232C
控制: 测试结束,数据显示,触发准备,不合格与属性。
触发输入: DC,AC,接触结束。
前面板: 设置PC及加载及保存
环境: 室温: 10 - 30摄氏度
预热时间: 至少30分钟
校准间隙: 至少每隔12个月。 电桥 欧洲 海外
规格尺寸: 高度: 140mm或5.5英寸 35mm or 1.4 英寸 30cm 32cm
宽度: 438mm或17.2英寸 192mm or 7.5英寸 51cm 52cm
深度: 360mm 或14.2 英寸 205mm or 8.1 英寸 56cm 55cm
重量: 16Kg 或36 1b 21kg 23kg