日本电子热场发射扫描电镜JSM-7001F(Thermal Field Emission SEM) JSM-7001F
产品简介
日本电子热场发射扫描电镜JSM-7001F(Thermal Field Emission SEM)是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。日本电子热场发射扫描电镜JSM-7001F(Thermal Field Emission SEM)样品室可处理直径*大为200mm的样品。
产品详细信息
日本电子热场发射扫描电镜JSM-7001F(Thermal Field Emission SEM)是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径*大为200mm的样品。
计算机接口是新的Windows® XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。*多可同时查看包括混合信号的四幅实时图像,单次扫描就可以记录并马上存储全部的四幅图像。
JSM-7001F扫描电子显微镜还支持与EDS、WDS、电子束光刻系统和图像数据库的整体化。标准的样品台自动化由计算机控制5轴:X、Y、Z、倾斜和对中自转。
低真空操作
JSM-7001FLV场发射扫描电子显微镜具有高分辨率性能,可以在中至高电压千伏(kV)和更高的束流下对非导电样品进行成像。因此无需在样品上镀金属膜或碳膜以供导电,即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技术。这在以下情况中特别有用: 样品不能修改时,尚需后续测试时,或尚需返回产品线时。
低真空模式规格
样品室压力:*大50 Pa
分辨率:3.0nm(30kV)(BEI)
枪室压力:5 x 10-7 Pa或更小
采用的气体:干燥氮气
扫描电子显微镜JASM-6200
能够在大气压下观察样品
扫描电子显微镜JASM-6200设计原理
扫描电子显微镜JASM-6200(ASEM)是和在其上方设置的光学显微镜共同构成。ASEM在倒立的SEM上方配置了一层薄膜,在透过电子束的同时又阻止了大气通过,这样就可以把大气中的样品与SEM内部的真空隔离开来。样品放置在薄膜的上面,从其下方照射出电子束,由此可以在大气下对样品进行高倍观察。另外通过上方的光学显微镜还可以进行相同视野的观察。使用薄膜构成的ASEM皿(薄膜皿),可以在细胞室内进行细胞的培养。
扫描电子显微镜(SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比,具有焦距更深,分辨率更好的特点。相反,得不到象光学显微镜那样获得的纯自然光泽。我们利用扫描电子显微镜的主要特点,可以广泛应用于科研和生产。
扫描电子显微镜JASM-6200
能够在大气压下观察样品
扫描电子显微镜JASM-6200设计原理
扫描电子显微镜JASM-6200(ASEM)是和在其上方设置的光学显微镜共同构成。ASEM在倒立的SEM上方配置了一层薄膜,在透过电子束的同时又阻止了大气通过,这样就可以把大气中的样品与SEM内部的真空隔离开来。样品放置在薄膜的上面,从其下方照射出电子束,由此可以在大气下对样品进行高倍观察。另外通过上方的光学显微镜还可以进行相同视野的观察。使用薄膜构成的ASEM皿(薄膜皿),可以在细胞室内进行细胞的培养。
扫描电子显微镜(SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比,具有焦距更深,分辨率更好的特点。相反,得不到象光学显微镜那样获得的纯自然光泽。我们利用扫描电子显微镜的主要特点,可以广泛应用于科研和生产。