WBLH-200J 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J WBLH-200J
产品简介
WBLH-200J 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J 本仪器采用了涡流测厚方法,可无损的测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、相交、油漆、塑料等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
产品详细信息
高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J |
货号:ZH6917 |
产品简介 WBLH-200J 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLH-200J |