贵金属检测仪 BZ-X-3680
产品简介
贵金属检测仪 贵金属测试仪 型号：BZ-X-3680 产品详情： X-3680 贵金属检测仪 产品型号：BZ-x-3680 产品详情： BZ-X-3680是种体现X射线荧光分析术*新展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司门开发的应用软件，充分发挥各件的优异性能，
产品详细信息
贵金属检测仪 贵金属测试仪 型号：BZ-X-3680
产品详情：
| X-3680 贵金属检测仪 |
| 产品型号：BZ-x-3680 |
| 产品详情：
BZ-X-3680是种体现X射线荧光分析术*新展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司门开发的应用软件，充分发挥各件的优异性能，保证了整台仪器的分辨率及通用适应性。何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率，适用于各行业对不同元素行无损检测。在不同作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM别到千分之别。
强势能
1. 基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。
2．包裹样品检测辨别系统。
3．样品室清成像定位系统，方便微小样品定位测量。
4．电制冷与内双向循环冷却恒温系统相结合，维持内作环境稳定。
5. 内动力学风道设计，快速排出多余热量。
6．双峰位快速自动校准。
7．双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升。
8．仪器作方法意开发。
9. 定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图法，光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求立设计。
12.温度系数：温度变化1度，电压变化不过0.01%
13.稳定性：经过半个小时预热后，每8小时变化不过0.05% 14.准直器：使用殊的滤波片自动更换，提能区的峰背比。 15.彩色液晶显示屏 16.自主研发的多能数字集成新型放大器，提降噪比。 整机术规格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm
开仓测量：无限大
3. 仪器重量：50公斤
4．作环境温度：0——35℃
5. 作环境相对湿度：≤80%
6. 元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
7. 含量分析范围：1PPM——99.999%
8．测量时间:10——180秒可调
9. 激发源：低率X射线管
10．压电源：美Spellman原装口压电源
11．探测器：美Amptek原装口电制冷Si-Pin半导体探测器
12. 仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV
13．多道分析器：2048道
14．软件：基于WINDOWS的强大作软件
15. 客户可行二次开发，自行开发意多个分析方法
16．作电源：交流 220V 50Hz
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