LCR测试仪 HP4278A|HP4278A|HP4278A|HP4278A

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产品型号:HP4278A|HP4278A|HP4278A|HP4278A
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公司名称:深圳市创科达电子有限公司
  地:广东深圳
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产品简介

品牌:美国-安捷伦

产品详细信息

★测量速度:6.5ms/10ms/21ms                                                                                  

★测量参数:C-D,Q,ESR,G                                                                                         

C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)                                                                      

0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

 

Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器,用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电容器的测试效率(可测量以200μF,这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值)。

技术指标:

测量参数

C-DQESRG

测试信号

 

频率:

1kHz1MHz±0.02%

信号电平:

0.1~1Vrms,±10%(C20μf),0.1Vrms步进

测量时间:

6.5ms/10ms/21ms(典型值)

测量范围

测量参数

1kHz

1MHz正常模式
1MHz高精度

C

0.01pF~200.000μF

0.00001pF~1280.00pF

 

 

0.00004pF~2663.00pF

D

0.00001~9.99999

0.00001pF~9.99999

 

 

0.00001pF~0.99999

电缆长度补偿

0,12m

比较器:

对电容的10仓室分类,对DQESRG的合格/不合格测试

存储卡插槽

外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用(存储卡可任选,参见下面的选件004)。

一般技术指标:

工作温度/湿度

5°~45,在40时相对湿度为95%

电源

100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax

尺寸

426mm(宽)*177mm(���)*498mm(长)(16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)

订货信息:

·4278A 1kHz/1MHz电容测试仪
  Opt W30 扩大的维修服务
  Opt 001 1kHz测试频率
  Opt 002 1MHz测试频率
  Opt 003 1%的频率漂移;
  要防止当元件测试接触靠近测试装置时可能出现的测试信号干扰
  Opt 004 存储卡
  Opt 005 -1%频率漂移
  Opt 006 +2%频率漂移
  Opt 101 GPIB兼容性
  Opt 201 处理器接口
  Opt 202 处理器接口
  Opt 301 扫描器接口
可提供的附件:16270A 存储卡套件

 

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