光回损测试仪 BRT-320A
产品简介
沿着光链路的光回损将降低系统的性能和误码率,危及系统发射机的稳定性。 BRT-320A 可测量链路和独立元器件的回损,并可在其严重影响通信系统前揭示潜在的光回损问题。 特点: • 内置带制冷的激光器 • 0 ~ -70dB 的测量 范围 • 可在 1310 , 1550 和 1625nm 波长测试。 并可发现其它传输波长的可能问题 •
产品详细信息
沿着光链路的光回损将降低系统的性能和误码率,危及系统发射机的稳定性。 BRT-320A 可测量链路和独立元器件的回损,并可在其严重影响通信系统前揭示潜在的光回损问题。
特点:
• 内置带制冷的激光器
• 0 ~ -70dB 的测量 范围
• 可在 1310 , 1550 和 1625nm 波长测试。
并可发现其它传输波长的可能问题
• 能存贮 300 个读数
型号
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-02BLC-58
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-03BLC-58
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-23BLC-58
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-04BLC
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-34BLC
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工作波长(nm)
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1310±15
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1550±15
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1310±15
1550±15 |
1625±15
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1550/1625±15
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光谱宽度
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< 5
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< 5
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< 5
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< 5
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< 5
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工作时间(小时)
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120
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100
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120
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120
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输出稳定性(15min) 1hour (dB)
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±0.01 ±0.05
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±0.01 ±0.05
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±0.02 ±0.06
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-
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-
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*小输出功率
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-6.5
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-6.5
|
-7.5
|
-3
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-9/-7
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**度(dB)
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±0.5
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-
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极化灵敏度(dB)
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±0.15
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显示分辨率(dB)
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0.01
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线性度(dB)
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±0.1
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工作温度(℃)
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-10~+40
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储存温度(℃)
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-30~+60
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重量(kg)
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0.8
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外形尺寸(mm)
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210 × 110 × 50
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