光学**型测温仪 OI-T6

OI-T6光学**型测温仪
OI-T6 系列光学**型测温仪，使用美国**技术（U.S.Patent6357910 ），采用*新发明的光学场变换器、光学多参数比较器 、光电多参数差动放大器、光学滤波隔离及模式稳定器等一系列新颖光学元件制造生产，是一种结合非接触式
测温方法和光纤传感技术实现高精度、高重复性、高可靠性、快速响应和高性价比的非接触式或接触式测量的新型光纤传感类测温系统。尤其适用于对高温、真空环境及移动状态等目标的测量，可在有色冶炼、粉末冶金、中高频感应加热、钢铁、铸造、陶瓷、焊接、锻造、热处理等多种工业场合及科研领域、医疗领域、交通运输等领域中广泛应用。

**同行业的三大特点 ：
与测试距离无关,与材料辐射率无关、*小测试光斑 300 μ m
原理： 将光纤掺杂不同的材料，调节窗口波长，又利用光纤的空间滤波效应，使入射光波从空间瞬态变为空间稳态。并根据热源温度选择紫外、可见和红外等工作波段，达到被测温度、光纤选择和光电转换三部分*佳组合，实现光纤单线制传感温度信息至信号处理单元，实时测定动态、静态和高温高压等各种恶劣环境下的温度值。

测温范围:-50℃～3000℃
基本误差:<±0.5%(量程上限)
响应时间:<1ms
*小测量直径:F 6mm(目标距离为250mm时)
数字输出:RS485.modbus协议
模拟输出:4～20mA；0 ～ 5VDC
工作电源:24VDC
目标距离:0.2m～12m
光纤长度:1.5m(3m,5m,10m可选)
工作环境:光纤探头-30～150℃;信号处理单元-30～150℃
采集精度:16bit(1/65536)
模拟输出精度:16bit(1/65536)