数位IC测试仪 GUT-6000A
产品简介
GUT-6000A 数位IC测试仪 可量测之 IC 种类超过 1800 种 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS *大可测 Pin 数 : 28 Pin
产品详细信息
GUT-6000A 数位IC测试仪
特点:
.Loop 测试
. 自动搜寻 IC 编号功能
. 开机自我侦测诊断功能
. 过载保护功能
. 可量测之 IC 种类超过 1800 种
. 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
. 4000 及 4500 系列 CMOS
. *大可测 Pin 数 : 28 Pin
技术参数:
测试范围 |
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54/74 系列 TTL 及高速 CMOS | |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量测种类 |
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约 1800 种 | |
试电压 |
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5V DC | |
测试时间 |
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高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC | |
使用电源 |
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交流 110V/220V +10%, 50/60Hz | |
附件 |
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电源线 x 1, 操作手册 x 1 | |
尺寸及重量 |
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤 |